ADC12DL3200
- ADC Core:
- 12-Bit Resolution
- Up to 6.4 GSPS in Single-Channel Mode
- Up to 3.2 GSPS in Dual-Channel Mode
- Internal Dither for Low-Magnitude, High-Order Harmonics
- Low-Latency LVDS Interface:
- Total Latency: < 10 ns
- Up to 48 Data Pairs at 1.6 Gbps
- Four DDR Data Clocks
- Strobe Signals Simplify Synchronization
- Noise Floor (No Input, V FS = 1.0 V PP-DIFF):
- Dual-Channel Mode: –151.1 dBFS/Hz
- Single-Channel Mode: –154.3 dBFS/Hz
- Buffered Analog Inputs With V CMI of 0 V:
- Analog Input Bandwidth (–3 dB): 8.0 GHz
- Usable Input Frequency Range: > 10 GHz
- Full-Scale Input Voltage (V FS, Default): 0.8 V PP
- Noiseless Aperture Delay (T AD) Adjustment:
- Precise Sampling Control: 19-fs Step
- Simplifies Synchronization and Interleaving
- Temperature and Voltage Invariant Delays
- Easy-to-Use Synchronization Features:
- Automatic SYSREF Timing Calibration
- Timestamp for Sample Marking
- Power Consumption: 3.15 W
The ADC12DL3200 is an RF-sampling, giga-sample, analog-to-digital converter (ADC) that can directly sample input frequencies from DC to above 10 GHz. In dual-channel mode, the ADC12DL3200 can sample up to 3200 MSPS and in single-channel mode up to 6400 MSPS. Programmable tradeoffs in channel count (dual-channel mode) and Nyquist bandwidth (single-channel mode) allow development of flexible hardware that meets the needs of both high-channel count or wide instantaneous signal bandwidth applications. Full-power input bandwidth (–3 dB) of 8.0 GHz and a useable frequency range allows direct RF sampling of L-band, S-band, C-band, and X-band for frequency agile systems.
The ADC12DL3200 uses a low-latency, low-voltage differential signaling (LVDS) interface for latency sensitive applications or when the simplicity of LVDS is preferred. The interface uses up to 48 data pairs, four double data rate (DDR) clocks, and four strobe signals arranged in four 12-bit data buses. The interface supports signaling rates of up to 1.6 Gbps. Strobe signals simplify synchronization across buses and between multiple devices. The strobe is generated internally and can be reset at a deterministic time by the SYSREF input. Multi-device synchronization is further eased by innovative synchronization features such as noiseless aperture delay (T AD) adjustment and SYSREF windowing.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
---|---|---|---|---|
* | Data sheet | ADC12DL3200 6.4-GSPS Single-Channel or 3.2-GSPS Dual-Channel, 12-Bit Analog-to-Digital Converter (ADC) With LVDS Interface datasheet (Rev. C) | PDF | HTML | 2023/05/23 |
EVM User's guide | ADC12DLXX00 Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2023/12/07 | |
EVM User's guide | TSW14DL3200EVM High-Speed LVDS Data Capture and Pattern Generator User's Guide | 2018/05/15 |
설계 및 개발
추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.
ADC12DL3200EVM — ADC12DL3200 12비트, 듀얼 3.2GSPS 또는 단일 6.4GSPS, RF 샘플링 ADC 평가 모듈
ADC12DL3200 평가 모듈(EVM)은 LVDS 인터페이스를 적용한 12비트, 듀얼 3.2 GSPS 또는 싱글 6.4 GSPS, RF 샘플링 ADC(아날로그-디지털 컨버터) 제품인 ADC12DL3200를 평가하는 데 사용합니다. 이 EVM에는 단일 종단 AC 결합 아날로그 입력, 온보드 ADC 클록 생성, 전원 조절 회로가 있습니다. ADC12DL3200EVM은 TSW14DL3200EVM에 직접 연결할 수 있도록 설계되었습니다.
고속 데이터 컨버터 프로 소프트웨어(DATACONVERTERPRO-SW) 분석 툴을 통해 추가 지원이 (...)
SLVC719 — ADC12DLxx00EVM GUI
지원되는 제품 및 하드웨어
제품
고속 ADC(≥10 MSPS)
하드웨어 개발
평가 보드
ABACO-3P-FMC172 — Abaco Systems® 광대역 저지연 고속 ADC/DAC 모듈 메자닌 카드
PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®
TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
---|---|---|
FCBGA (ACF) | 256 | Ultra Librarian |
FCBGA (ALJ) | 256 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.