DAC121S101-SEP
- Radiation tolerance:
- Total ionizing dose (TID): 30krad (Si)
- Single-event latch-up (SEL): 43MeV-cm2/mg
- Single-event functional interrupt (SEFI): 43MeV-cm2/mg
- Space-enhanced plastic (space EP):
- Outgassing test performed per ASTM E595
- Vendor item drawing (VID) V62/24641
- Supports defense and aerospace application temperature range: –55°C to +125°C
- Controlled baseline
- One assembly and test site
- One fabrication site
- Extended product life cycle
- Product traceability
- Specified monotonicity
- Low-power operation
- Rail-to-rail voltage output
- Power-on reset to zero-scale output
- Wide power-supply range of 2.7V to 5.5V
- Small package:
- 8-pin VSSOP (3mm × 3mm)
- Power-down feature
- Key specifications:
- 12-bit resolution
- DNL: −0.15LSB, +0.35LSB (typical)
- 12µs output settling time (typical)
- 4mV zero-code error (typical)
- Full-scale error at −0.07%FSR (typical)
The DAC121S101-SEP device is a full-featured, general-purpose, 12-bit voltage-output digital-to-analog converter (DAC) that can operate from a single 2.7V to 5.5V supply and consumes just 177µA (typical) of current at 3.6V. The on-chip output amplifier allows rail-to-rail output swing and the three wire serial interface operates at clock rates up to 30MHz over the specified supply voltage range and is compatible with standard SPI, QSPI, MICROWIRE and DSP interfaces.
The supply voltage serves as the voltage reference for the DAC121S101-SEP, providing the widest possible output dynamic range. A power-on reset circuit powers up the DAC output to zero volts until there is a valid write to the device. A power-down feature reduces power consumption to less than a microwatt (typical).
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | DAC121S101-SEP 12-Bit, Micro Power, RRO Digital-to-Analog Converter datasheet | PDF | HTML | 2024/12/11 |
* | Radiation & reliability report | DAC121S101-SEP Single-Event Latch-Up (SEL) Radiation Report | PDF | HTML | 2024/12/13 |
* | Radiation & reliability report | DAC121S101-SEP Radiation Tolerant, CMOS, 12-Bit Digital to Analog Converter (DAC) TID Report | PDF | HTML | 2024/12/12 |
* | Radiation & reliability report | DAC121S101-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2024/12/11 |
EVM User's guide | DAC121S101-SEP Evaluation Module User's Guide | PDF | HTML | 2024/09/27 |
설계 및 개발
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패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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VSSOP (DGK) | 8 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.