DAC39RFS10-SEP
- Radiation hardness assured DAC39RFx10-SP:
- Single event upset (SEU) immune registers
- Single-event latch up (SEL): 120MeV-cm2/mg
- RLAT Total ionizing dose (TID): 300krad (Si)
- Radiation tolerant DAC39RFx10-SEP:
- Single event upset (SEU) immune registers
- Single-event latch up (SEL): 43MeV-cm2/mg
- RLAT Total ionizing dose (TID): 30krad (Si)
- 16-bit, 10.4 or 20.8GSPS, multi-Nyquist DAC Cores
- Maximum input data rate:
- 8-bit, Single channel, DES mode: 20.8GSPS
- 12-bit, Single channel, DES mode: 15.5GSPS
- 16-bit, Single channel: 10.4GSPS
- 8-bit, Dual channel, 10.4GSPS
- 12-bit, Dual channel: 7.75GSPS/ch
- 16-bit, Dual channel: 6.2GSPS/ch
- Output bandwidth (-3dB): 12GHz
- Performance at fOUT = 2.997GHz, DES2XL mode, DEM/Dither off
- Noise floor (small signal): –155dBFS/Hz
- SFDR (-0.1dBFS) : 60dBc
- IMD3 (-7dBFS each tone) : –62dBc
- Additive phase noise, 10kHz offset: -138dBc/Hz
- Four Integrated digital up-converters (DUC)
- Interpolation: 1x, 2x, 3x, 4x, 6x, 8x, 12x ... 256x
- Complex baseband DUC for I/Q output
- Complex to real up conversion for dual channel direct RF sampling
- 64-bit frequency resolution NCOs
- JESD204C Interface
- Up to 16 Lanes at up to 12.8Gbps
- Class C-S, subclass-1 Compatible
- Internal AC coupling capacitors
- SYSREF Windowing for automatic SYSREF timing calibration
- Space screening and assurance:
- Meets ASTM E595 outgassing specification
- One fabrication, assembly, and test site
- Wafer lot traceability
- Extended product life cycle
- Radiation lot acceptance test (RLAT)
- Production burn-in (DAC39RFx10-SP only)
The DAC39RF10-Sx and ’RFS10-Sx are a family of dual and single channel digital-to-analog converters (DAC) with 16-bit resolution. The devices can be used as non-interpolating or interpolating DACs for either direct RF sampling or complex baseband signal generation. The maximum input data rate is 20.8GSPS for a single channel or 10.4 GSPS for two channels. The devices can generate signals of up to 10, 7.5, and 5GHz signal bandwidth (8, 12, and 16-bit input resolution) at carrier frequencies exceeding 10GHz enabling direct sampling in X-band.
The high sampling rate, output frequency range, 64-bit NCO frequency resolution and any frequency hopping with phase coherence also makes the DAC39RF10-Sx and ’RFS10-Sx capable of arbitrary waveform generation (AWG) and direct digital synthesis (DDS).
A JESD204B and JESD204C compatible serial interface has 16 receiver pairs capable of up to 12.8Gbps. The interface is JESD204B and JESD204C subclass-1 compliant for deterministic latency and multi-device synchronization through the use of SYSREF.
기술 자료
설계 및 개발
추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.
DAC39RF10EVM — DAC39RF10 평가 모듈
DAC39RF10EVM은 텍사스 인스트루먼트의 DAC39RF10, 디지털-아날로그 컨버터(DAC)의 평가에 사용되는 평가 보드입니다. DAC39RF10은 듀얼 채널, 16/08비트 DAC39RF10은 16비트 해상도를 지원하는 싱글 및 듀얼 채널 디지털-아날로그 컨버터(DAC) 제품군입니다. 이 장치는 싱글 채널 또는 듀얼 채널 비보간 DAC로 사용할 수 있습니다. 이 디바이스는 직접 RF 샘플링 모드 또는 베이스밴드 모드에서 보간 DAC로 사용할 수도 있습니다. 최대 입력 데이터 속도는 싱글 채널 모드에서 20.48GSPS, (...)
PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®
TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| FCBGA (ACL) | 256 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치