TL3472
- Wide Gain-Bandwidth Product...4 MHz
- High Slew Rate...13 V/µs
- Fast Settling Time...1.1 µs to 0.1%
- Wide-Range Single-Supply Operation...4 V to 36 V
- Wide Input Common-Mode Range Includes Ground (VCC–)
- Low Total Harmonic Distortion...0.02%
- Large-Capacitance Drive Capability...10,000 pF
- Output Short-Circuit Protection
Quality, low-cost, bipolar fabrication with innovative design concepts are employed for the TL3472 operational amplifier. This device offers 4 MHz of gain-bandwidth product, 13-V/µs slew rate, and fast settling time, without the use of JFET device technology. Although the TL3472 can be operated from split supplies, it is particularly suited for single-supply operation because the common-mode input voltage range includes ground potential (VCC-). With a Darlington transistor input stage, this device exhibits high input resistance, low input offset voltage, and high gain. The all-npn output stage, characterized by no dead-band crossover distortion and large output voltage swing, provides high-capacitance drive capability, excellent phase and gain margins, low open-loop high-frequency output impedance, and symmetrical source/sink ac frequency response. This low-cost amplifier is an alternative to the MC33072 and the MC34072 operational amplifiers.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | High Slew Rate, Single Supply, Operational Amplifier datasheet (Rev. G) | 2003/07/21 | |
E-book | The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics | 2017/03/28 |
설계 및 개발
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AMP-PDK-EVM — 증폭기 성능 개발 키트 평가 모듈
증폭기 성능 개발 키트(PDK)는 일반적인 연산 증폭기(OP 앰프) 매개 변수를 테스트할 수 있는 평가 모듈(EVM) 키트입니다. 대부분의 연산 증폭기 및 콤퍼레이터와 호환됩니다. EVM 키트는 패키지 요구 사항에 맞는 여러 소켓형 부속 카드 옵션이 있는 메인 보드를 제공하여 엔지니어가 디바이스 성능을 신속하게 평가하고 확인할 수 있습니다.
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DIP-ADAPTER-EVM — DIP 어댑터 평가 모듈
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DIP 어댑터 EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 6개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.
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TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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PDIP (P) | 8 | Ultra Librarian |
SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치