TLV4172
- Supply Range: 4.5 V to 36 V, ±2.25 V to ±18 V
- Low Noise: 9 nV/√Hz
- Low Offset Drift: ±1 µV/°C (Typical)
- EMI-Hardened
- Input Range Includes Negative Supply
- Rail-to-Rail Output
- Gain Bandwidth: 10 MHz
- Slew Rate: 10 V/µs
- Low Quiescent Current: 1.6 mA per Amplifier
- High Common-Mode Rejection: 116 dB (Typical)
- Low Input Bias Current: 10 pA
The TLVx172 family of electromagnetic interference (EMI)-hardened, 36-V, single-supply, low-noise operational amplifiers (op amps) features a THD+N of 0.0002% at 1 kHz with the ability to operate on supplies ranging from 4.5 V (±2.25 V) to 36 V (±18V). These features, along with low noise and very high PSRR, enable the TLVx172 to amplify microvolt-level signals in applications such as HEV and EV automobiles and power trains, medical instrumentation, and more. The TLVx172 device offers good offset and drift, a high bandwidth of 10 MHz, and a slew rate of 10 V/µs with only 2.3 mA of quiescent current over temperature (maximum).
Unlike most op amps that are specified at only one supply voltage, the TLVx172 device is specified from 4.5 V to 36 V. Input signals beyond the supply rails do not cause phase reversal. TLVx172 device is stable with capacitive loads up to 300 pF. The input can operate 100 mV below the negative rail and within 2 V of the positive rail for normal operation. Note that the device can operate with a full rail-to-rail input 100 mV beyond the positive rail, but with reduced performance within 2 V of the positive rail.
The TLVx172 op amp is specified from –40°C to +125°C.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | TLVx172 36-V, single-supply, low-power operational amplifier for cost-sensitive systems datasheet (Rev. C) | PDF | HTML | 2019/01/21 |
E-book | The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics | 2017/03/28 |
설계 및 개발
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패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치