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Amplificadores de ganancia programable y variable (PGA y VGA)

PGA117

ACTIVO

Desplazamiento a cero, desplazamiento de 100 µV, ruido de 12 nV/√Hz, amplificador de ganancia progra

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PGA117

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Detalles del producto

PGA/VGA PGA Number of channels 10 Vs (max) (V) 5.5 Vs (min) (V) 2.2 BW at Acl (MHz) 10 Acl, min spec gain (V/V) 1 Slew rate (typ) (V/µs) 3 Gain (max) (dB) 46 Gain error (typ) (%) 0.006 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
PGA/VGA PGA Number of channels 10 Vs (max) (V) 5.5 Vs (min) (V) 2.2 BW at Acl (MHz) 10 Acl, min spec gain (V/V) 1 Slew rate (typ) (V/µs) 3 Gain (max) (dB) 46 Gain error (typ) (%) 0.006 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Rail-to-Rail Input and Output
  • Offset: 25 µV (Typical), 100 µV
    (Maximum)
  • Zerø Drift: 0.35 µV/°C (Typical), 1.2 µV/°C
    (Maximum)
  • Low Noise: 12 nV/√Hz
  • Input Offset Current: ±5 nA Maximum (25°C)
  • Gain Error: 0.1% Maximum (G ≥ 32),
    0.3% Maximum (G > 32)
  • Binary Gains: 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128 (PGA112,
    PGA116)
  • Scope Gains: 1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, 200
    (PGA113, PGA117)
  • Gain Switching Time: 200 ns
  • 2 Channel MUX: PGA112, PGA113
    10 Channel MUX: PGA116, PGA117
  • Four Internal Calibration Channels
  • Amplifier Optimized for Driving CDAC ADCs
  • Output Swing: 50 mV to Supply Rails
  • AVDD and DVDD for Mixed Voltage Systems
  • IQ = 1.1 mA (Typical)
  • Software and Hardware Shutdown: IQ ≤ 4 µA
    (Typical)
  • Temperature Range: –40°C to 125°C
  • SPI™ Interface (10 MHz) With Daisy-Chain
    Capability
  • Rail-to-Rail Input and Output
  • Offset: 25 µV (Typical), 100 µV
    (Maximum)
  • Zerø Drift: 0.35 µV/°C (Typical), 1.2 µV/°C
    (Maximum)
  • Low Noise: 12 nV/√Hz
  • Input Offset Current: ±5 nA Maximum (25°C)
  • Gain Error: 0.1% Maximum (G ≥ 32),
    0.3% Maximum (G > 32)
  • Binary Gains: 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128 (PGA112,
    PGA116)
  • Scope Gains: 1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, 200
    (PGA113, PGA117)
  • Gain Switching Time: 200 ns
  • 2 Channel MUX: PGA112, PGA113
    10 Channel MUX: PGA116, PGA117
  • Four Internal Calibration Channels
  • Amplifier Optimized for Driving CDAC ADCs
  • Output Swing: 50 mV to Supply Rails
  • AVDD and DVDD for Mixed Voltage Systems
  • IQ = 1.1 mA (Typical)
  • Software and Hardware Shutdown: IQ ≤ 4 µA
    (Typical)
  • Temperature Range: –40°C to 125°C
  • SPI™ Interface (10 MHz) With Daisy-Chain
    Capability

The PGA112 and PGA113 devices (binary and scope gains) offer two analog inputs, a three-pin SPI interface, and software shutdown in a 10-pin, VSSOP package. The PGA116 and PGA117 (binary and scope gains) offer 10 analog inputs, a SPI interface with daisy-chain capability, and hardware and software shutdown in a 20-pin TSSOP package.

All versions provide internal calibration channels for system-level calibration. The channels are tied to GND, 0.9 VCAL, 0.1 VCAL, and VREF, respectively. VCAL, an external voltage connected to Channel 0, is used as the system calibration reference. Binary gains are: 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, and 128; scope gains are: 1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, and 200.

The PGA112 and PGA113 devices (binary and scope gains) offer two analog inputs, a three-pin SPI interface, and software shutdown in a 10-pin, VSSOP package. The PGA116 and PGA117 (binary and scope gains) offer 10 analog inputs, a SPI interface with daisy-chain capability, and hardware and software shutdown in a 20-pin TSSOP package.

All versions provide internal calibration channels for system-level calibration. The channels are tied to GND, 0.9 VCAL, 0.1 VCAL, and VREF, respectively. VCAL, an external voltage connected to Channel 0, is used as the system calibration reference. Binary gains are: 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, and 128; scope gains are: 1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, and 200.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet PGA11x Zerø-Drift Programmable Gain Amplifier With Mux datasheet (Rev. C) PDF | HTML 30 nov 2015

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Pedidos y calidad

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  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
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  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

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