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SN54HC273-DIE

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SN54HC273-DIE, biestables octales de tipo D con opción de eliminación

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SN54HC273-DIE

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Detalles del producto

Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type CMOS Output type CMOS IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Operating temperature range (°C) 25 to 25 Rating Space
Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type CMOS Output type CMOS IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Operating temperature range (°C) 25 to 25 Rating Space
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 12 ns
  • Low Input Current
  • Contain Eight Flip-Flops With
    Single-Rail Outputs
  • Direct Clear Input
  • Applications Include:
    • Buffer/Storage Registers
    • Shift Registers
    • Pattern Generators
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 12 ns
  • Low Input Current
  • Contain Eight Flip-Flops With
    Single-Rail Outputs
  • Direct Clear Input
  • Applications Include:
    • Buffer/Storage Registers
    • Shift Registers
    • Pattern Generators

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet Rad-Tolerant Space Grade Die, Quadruple 2-Input Positive-AND Gate, SN54HC273-DIE datasheet 03 jun 2013

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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