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SN74ABT541B-Q1

ACTIVO

Búferes de 8 canales, 4.5 V a 5.5 V con entradas CMOS compatibles con TTL y salidas de 3 estados de

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SN74ABT541B-Q1

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Detalles del producto

Technology family ABT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 64 Supply current (max) (µA) 30000 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family ABT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 64 Supply current (max) (µA) 30000 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 85
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Qualified for Automotive Applications
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 150 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce)
        <1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • High-Impedance State During Power Up and Power Down
  • High-Drive Outputs (–32-mA IOH, 64-mA IOL)

EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments Incorporated.
  • Qualified for Automotive Applications
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 150 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce)
        <1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • High-Impedance State During Power Up and Power Down
  • High-Drive Outputs (–32-mA IOH, 64-mA IOL)

EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments Incorporated.

The SN74ABT541B octal buffer and line driver is ideal for driving bus lines or buffering memory address registers. The device features inputs and outputs on opposite sides of the package to facilitate printed circuit board layout.

The 3-state control gate is a two-input AND gate with active-low inputs so that if either output-enable OE1 or OE2) input is high, all eight outputs are in the high-impedance state.

When VCC is between 0 and 2.1 V, the device is in the high-impedance state during power up or power down. However, to ensure the high-impedance state above 2.1 V, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The SN74ABT541B octal buffer and line driver is ideal for driving bus lines or buffering memory address registers. The device features inputs and outputs on opposite sides of the package to facilitate printed circuit board layout.

The 3-state control gate is a two-input AND gate with active-low inputs so that if either output-enable OE1 or OE2) input is high, all eight outputs are in the high-impedance state.

When VCC is between 0 and 2.1 V, the device is in the high-impedance state during power up or power down. However, to ensure the high-impedance state above 2.1 V, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
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Documentación técnica

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Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74ABT541B Behavioral SPICE Model

SCBM135.ZIP (7 KB) - PSpice Model
Descargar
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

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  • Marcado del dispositivo
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