ホーム インターフェイス LVDS、M-LVDS、PECL の各 IC

SN65LVDT41-EP

アクティブ

エンハンスド製品、MemoryStick™ 相互接続エクステンダ・チップセット

製品詳細

Function Transceiver Protocols LVDS Number of transmitters 4 Number of receivers 1 Supply voltage (V) 3.3 Signaling rate (Mbps) 125 Input signal LVDS, LVTTL Output signal LVDS, LVTTL Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 125
Function Transceiver Protocols LVDS Number of transmitters 4 Number of receivers 1 Supply voltage (V) 3.3 Signaling rate (Mbps) 125 Input signal LVDS, LVTTL Output signal LVDS, LVTTL Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Integrated 110- Nominal Receiver Line Termination Resistor
  • Operate From a Single 3.3-V Supply
  • Greater Than 125-Mbps Data Rate
  • Flow-Through Pinout
  • LVTTL-Compatible Logic I/Os
  • ESD Protection on Bus Pins Exceeds 12 kV
  • Meet or Exceed Requirements of ANSI/TIA/EIA-644A Standard for LVDS
  • 20-Pin Thin Shrink Small-Outline Package (PW) With 26-Mil Terminal Pitch
  • APPLICATIONS
    • Memory Stick™ Interface Extensions With Long Interconnects Between Host and
      Memory Stick
    • Serial Peripheral Interface™ (SPI™) Interface Extension to Allow Long Interconnects
      Between Master and Slave
    • MultiMediaCard™ (MMC) Interface in SPI Mode
    • General-Purpose Asymmetric Bidirectional Communication

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
Serial Peripheral Interface, SPI are trademarks of Motorola.
MultiMediaCard is a trademark of MultiMediaCard Association.
Memory Stick is a trademark of Sony.

  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Integrated 110- Nominal Receiver Line Termination Resistor
  • Operate From a Single 3.3-V Supply
  • Greater Than 125-Mbps Data Rate
  • Flow-Through Pinout
  • LVTTL-Compatible Logic I/Os
  • ESD Protection on Bus Pins Exceeds 12 kV
  • Meet or Exceed Requirements of ANSI/TIA/EIA-644A Standard for LVDS
  • 20-Pin Thin Shrink Small-Outline Package (PW) With 26-Mil Terminal Pitch
  • APPLICATIONS
    • Memory Stick™ Interface Extensions With Long Interconnects Between Host and
      Memory Stick
    • Serial Peripheral Interface™ (SPI™) Interface Extension to Allow Long Interconnects
      Between Master and Slave
    • MultiMediaCard™ (MMC) Interface in SPI Mode
    • General-Purpose Asymmetric Bidirectional Communication

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
Serial Peripheral Interface, SPI are trademarks of Motorola.
MultiMediaCard is a trademark of MultiMediaCard Association.
Memory Stick is a trademark of Sony.

The SN65LVDT14 combines one LVDS line driver with four terminated LVDS line receivers in one package. It is designed to be used at the Memory Stick™ end of an LVDS-based Memory Stick interface extension.

The SN65LVDT41 combines four LVDS line drivers with a single terminated LVDS line receiver in one package. It is designed to be used at the host end of an LVDS-based Memory Stick interface extension.

The SN65LVDT14 combines one LVDS line driver with four terminated LVDS line receivers in one package. It is designed to be used at the Memory Stick™ end of an LVDS-based Memory Stick interface extension.

The SN65LVDT41 combines four LVDS line drivers with a single terminated LVDS line receiver in one package. It is designed to be used at the host end of an LVDS-based Memory Stick interface extension.

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
5 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN65LVDT14-EP, SN65LVDT41-EP データシート 2005年 6月 7日
* 放射線と信頼性レポート SN65LVDT41QPWREP Reliability Report 2015年 2月 6日
アプリケーション概要 LVDS to Improve EMC in Motor Drives 2018年 9月 27日
アプリケーション概要 How Far, How Fast Can You Operate LVDS Drivers and Receivers? 2018年 8月 3日
アプリケーション概要 How to Terminate LVDS Connections with DC and AC Coupling 2018年 5月 16日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

シミュレーション・モデル

SN65LVDT41 IBIS Model

SLLC120.ZIP (7 KB) - IBIS Model
シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ