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SN54ALS174

ACTIVO

Biestables de tipo D hexagonales con opción de eliminación

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SN54ALS174

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Detalles del producto

Number of channels 6 Technology family ALS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 75 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -0.4 Supply current (max) (µA) 19000 Features High speed (tpd 10-50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 6 Technology family ALS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 75 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -0.4 Supply current (max) (µA) 19000 Features High speed (tpd 10-50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92 CFP (W) 16 69.319 mm² 10.3 x 6.73 LCCC (FK) 20 79.0321 mm² 8.89 x 8.89
  • ’ALS174 and ’AS174 Contain Six Flip-Flops With Single-Rail Outputs
  • ’ALS175 and ’AS175B Contain Four Flip-Flops With Double-Rail Outputs
  • Buffered Clock and Direct-Clear Inputs
  • Applications Include:
    • Buffer/Storage Registers
    • Shift Registers
    • Pattern Generators
  • Fully Buffered Outputs for Maximum Isolation From External Disturbances (’AS Only)
  • ’ALS174 and ’AS174 Contain Six Flip-Flops With Single-Rail Outputs
  • ’ALS175 and ’AS175B Contain Four Flip-Flops With Double-Rail Outputs
  • Buffered Clock and Direct-Clear Inputs
  • Applications Include:
    • Buffer/Storage Registers
    • Shift Registers
    • Pattern Generators
  • Fully Buffered Outputs for Maximum Isolation From External Disturbances (’AS Only)

These positive-edge-triggered flip-flops utilize TTL circuitry to implement D-type flip-flop logic. All have a direct-clear (CLR)\ input. The ’ALS175 and ’AS175B feature complementary outputs from each flip-flop.

Information at the data (D) inputs meeting the setup-time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the positive-going pulse. When the clock (CLK) input is at either the high or low level, the D-input signal has no effect at the output.

These circuits are fully compatible for use with most TTL circuits.

These positive-edge-triggered flip-flops utilize TTL circuitry to implement D-type flip-flop logic. All have a direct-clear (CLR)\ input. The ’ALS175 and ’AS175B feature complementary outputs from each flip-flop.

Information at the data (D) inputs meeting the setup-time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the positive-going pulse. When the clock (CLK) input is at either the high or low level, the D-input signal has no effect at the output.

These circuits are fully compatible for use with most TTL circuits.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet Hex/Quadruple D-Type Flip-Flops With Clear datasheet (Rev. E) 23 may 2002
* SMD SN54ALS174 SMD 83019012A 21 jun 2016
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Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 jun 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
Application note Advanced Schottky (ALS and AS) Logic Families 01 ago 1995

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
CDIP (J) 16 Ultra Librarian
CFP (W) 16 Ultra Librarian
LCCC (FK) 20 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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