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SN54HC112

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Biestables dobles con activación de borde negativo J-K con opciones de eliminación y preajuste

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SN54HC112

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Detalles del producto

Number of channels 2 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 20 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) -4 IOH (max) (mA) 4 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 2 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 20 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) -4 IOH (max) (mA) 4 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92 CFP (W) 16 69.319 mm² 10.3 x 6.73 LCCC (FK) 20 79.0321 mm² 8.89 x 8.89
  • Wide operating voltage range of 2V to 6V
  • Outputs can drive up to 10 LSTTL loads
  • Low power consumption, 40µA max ICC
  • Typical tpd = 13ns
  • ±4mA output drive at 5V
  • Low input current of 1µA max
  • Wide operating voltage range of 2V to 6V
  • Outputs can drive up to 10 LSTTL loads
  • Low power consumption, 40µA max ICC
  • Typical tpd = 13ns
  • ±4mA output drive at 5V
  • Low input current of 1µA max

The SNx4HC112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE) or clear (CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup time requirements are transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the CLK pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops perform as toggle flip-flops by tying J and K high.

The SNx4HC112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE) or clear (CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup time requirements are transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the CLK pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops perform as toggle flip-flops by tying J and K high.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SNx4HC112 Dual J-K Negative-Edge-Triggered Flip-Flops With Clear and Preset datasheet (Rev. I) PDF | HTML 16 sep 2024
* SMD SN54HC112 SMD 84088012A 21 jun 2016
Application note Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 15 dic 2022
Application note Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 26 jul 2021
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 14 nov 2003
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 29 ago 2002
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 jun 1997
Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 jun 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
Application note SN54/74HCT CMOS Logic Family Applications and Restrictions 01 may 1996
Application note Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 01 abr 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
CDIP (J) 16 Ultra Librarian
CFP (W) 16 Ultra Librarian
LCCC (FK) 20 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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