SN74AC164-Q1

ACTIVO

Registro de desplazamiento de entrada en serie y salida paralela, de 1.5 V a 6 V y grado automotriz

Detalles del producto

Configuration Serial-in Bits (#) 8 Technology family AC Supply voltage (min) (V) 1.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
Configuration Serial-in Bits (#) 8 Technology family AC Supply voltage (min) (V) 1.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 WQFN (BQA) 14 7.5 mm² 3 x 2.5
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Available in wettable flank QFN package
  • Wide operating range of 1.5V to 6V
  • Inputs accept voltages up to 6V
  • Continuous ±24mA output drive at 5V
  • Supports up to ±75mA output drive at 5Vin short bursts
  • Drives 50Ω transmission lines
  • Maximum tpd of 12.5ns at 5V, 50pF load
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Available in wettable flank QFN package
  • Wide operating range of 1.5V to 6V
  • Inputs accept voltages up to 6V
  • Continuous ±24mA output drive at 5V
  • Supports up to ±75mA output drive at 5Vin short bursts
  • Drives 50Ω transmission lines
  • Maximum tpd of 12.5ns at 5V, 50pF load

The SN74AC164-Q1 device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. The gated serial (A and B) inputs permit complete control over incoming data; a low at either input inhibits entry of the new data and resets the first flip-flop to the low level at the next clock (CLK) pulse. A high-level input enables the other input, which then determines the state of the first flip-flop. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum set-up time requirements are met. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK.

The SN74AC164-Q1 device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. The gated serial (A and B) inputs permit complete control over incoming data; a low at either input inhibits entry of the new data and resets the first flip-flop to the low level at the next clock (CLK) pulse. A high-level input enables the other input, which then determines the state of the first flip-flop. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum set-up time requirements are met. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK.

Descargar Ver vídeo con transcripción Video

Productos similares que pueden interesarle

open-in-new Comparar alternativas
Pin por pin con la misma funcionalidad que el dispositivo comparado
SN74HCS164-Q1 ACTIVO Registro de desplazamiento de entrada en serie con salida paralela de 8 bits de calidad automotriz Longer average propagation delay (12ns), lower average drive strength (7.8mA)

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 13
Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74AC164-Q1 Automotive 8-Bit Serial-In/Parallel-Out Shift Register datasheet PDF | HTML 13 sep 2024
Application note Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 26 jul 2021
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
More literature HiRel Unitrode Power Management Brochure 07 jul 2009
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 29 ago 2002
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 jun 1997
Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 jun 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
Application note Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 01 abr 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un empaquetado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin conductores de 14 a 24 pine

14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos