SN74F74

ACTIVO

Biestables dobles de tipo D con activación de borde positivo con opciones de eliminación y preajuste

Detalles del producto

Number of channels 2 Technology family F Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 100 IOL (max) (mA) 20 IOH (max) (mA) -1 Supply current (max) (µA) 16000 Features Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family F Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 100 IOL (max) (mA) 20 IOH (max) (mA) -1 Supply current (max) (µA) 16000 Features Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages, Ceramic Chip Carriers, and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages, Ceramic Chip Carriers, and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs

These devices contain two independent positive-edge-triggered D-type flip-flops. A low level at the preset () or clear () inputs sets or resets the outputs regardless of the levels of the other inputs. When and are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input may be changed without affecting the levels at the outputs.

The SN54F74 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74F74 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

The output levels are not guaranteed to meet the minimum levels for VOH. Furthermore, this configuration is nonstable; that is, it will not persist when or returns to its inactive (high) level.

These devices contain two independent positive-edge-triggered D-type flip-flops. A low level at the preset () or clear () inputs sets or resets the outputs regardless of the levels of the other inputs. When and are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input may be changed without affecting the levels at the outputs.

The SN54F74 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74F74 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

The output levels are not guaranteed to meet the minimum levels for VOH. Furthermore, this configuration is nonstable; that is, it will not persist when or returns to its inactive (high) level.

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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un empaquetado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Modelo de simulación

SN74F74 IBIS Model (Rev. A)

SDFM005A.ZIP (9 KB) - IBIS Model
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

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