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SN74HC112

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Biestables tipo D con activación de borde negativo J-K doble con Clear y Preset

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SN74HC112

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Detalles del producto

Number of channels 2 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type LVTTL/CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 24 Supply current (max) (µA) 40 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type LVTTL/CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 24 Supply current (max) (µA) 40 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • Wide operating voltage range of 2V to 6V
  • Outputs can drive up to 10 LSTTL loads
  • Low power consumption, 40µA max ICC
  • Typical tpd = 13ns
  • ±4mA output drive at 5V
  • Low input current of 1µA max
  • Wide operating voltage range of 2V to 6V
  • Outputs can drive up to 10 LSTTL loads
  • Low power consumption, 40µA max ICC
  • Typical tpd = 13ns
  • ±4mA output drive at 5V
  • Low input current of 1µA max

The SNx4HC112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE) or clear (CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup time requirements are transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the CLK pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops perform as toggle flip-flops by tying J and K high.

The SNx4HC112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE) or clear (CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup time requirements are transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the CLK pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops perform as toggle flip-flops by tying J and K high.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SNx4HC112 Dual J-K Negative-Edge-Triggered Flip-Flops With Clear and Preset datasheet (Rev. I) PDF | HTML 16 sep 2024
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Application note Live Insertion 01 oct 1996
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Application note Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 01 abr 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un empaquetado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
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Diseños de referencia

TIDA-01171 — Diseño de referencia RS-485 acoplado a CA

The TIDA-01171 reference design allows for RS-485 communication over an AC-coupled link, even at very low data rates.  This allows for nodes to communicate even when large ground potential differences exist between nodes.  Using AC coupling also helps to protect transceivers from bus (...)
Design guide: PDF
Esquema: PDF
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
PDIP (N) 16 Ultra Librarian
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

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