SN74LS164

ACTIVO

Registros de desplazamiento de entrada en serie

Detalles del producto

Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 25 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -0.4 Supply current (max) (µA) 27000 Features High speed (tpd 10-50ns) Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 25 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -0.4 Supply current (max) (µA) 27000 Features High speed (tpd 10-50ns) Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8
  • Gated Serial Inputs
  • Fully Buffered Clock and Serial Inputs
  • Asynchronous Clear

 

  • Gated Serial Inputs
  • Fully Buffered Clock and Serial Inputs
  • Asynchronous Clear

 

These 8-bit shift registers feature gated serial inputs and an asynchronous clear. The gated serial inputs (A and B) permit complete control over incoming data as a low at either input inhibits entry of the new data and resets the first flip-flop to the low level at the next clock pulse. A high-level input enables the other input which will then determine the state of the first flip-flop. Data at the serial inputs may be changed while the clock is high or low, but only information meeting the setup-time requirements will be entered. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of the clock input. All inputs are diode-clamped to minimize transmission-line effects.

The SN54164 and SN54LS164 are characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74164 and SN74LS164 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

These 8-bit shift registers feature gated serial inputs and an asynchronous clear. The gated serial inputs (A and B) permit complete control over incoming data as a low at either input inhibits entry of the new data and resets the first flip-flop to the low level at the next clock pulse. A high-level input enables the other input which will then determine the state of the first flip-flop. Data at the serial inputs may be changed while the clock is high or low, but only information meeting the setup-time requirements will be entered. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of the clock input. All inputs are diode-clamped to minimize transmission-line effects.

The SN54164 and SN54LS164 are characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74164 and SN74LS164 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
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Application note Designing with the SN54/74LS123 (Rev. A) 01 mar 1997
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

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