Inicio Lógica y traducción de voltaje Biestables, latches y registros Registros de desplazamiento
Inicio
Lógica y traducción de voltaje
Biestables, latches y registros
Registros de desplazamiento

SN74LV165A

ACTIVO

Registros de desplazamiento de carga paralela de 8 bits

Haga su pedido ahora
Hoja de datos

SN74LV165A

ACTIVO
Hoja de datos Haga su pedido ahora

Detalles del producto

Configuration Parallel-in Bits (#) 8 Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 85 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -12 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
Configuration Parallel-in Bits (#) 8 Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 85 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -12 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 SOP (NS) 16 79.56 mm² 10.2 x 7.8 SSOP (DB) 16 48.36 mm² 6.2 x 7.8 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4 TVSOP (DGV) 16 23.04 mm² 3.6 x 6.4 VQFN (RGY) 16 14 mm² 4 x 3.5 WQFN (BQB) 16 8.75 mm² 3.5 x 2.5
  • VCC operation of 2 V to 5.5 V
  • Maximum tpd of 10.5 ns at 5 V
  • Support mixed-mode voltage operation on all ports
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • VCC operation of 2 V to 5.5 V
  • Maximum tpd of 10.5 ns at 5 V
  • Support mixed-mode voltage operation on all ports
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The SN74LV165A device is a parallel-load, 8-bit shift registers designed for 2 V to 5.5 V VCC operation.

When the device is clocked, data is shifted toward the serial output QH. Parallel-in access to each stage is provided by eight individual direct data inputs that are enabled by a low level at the shift/load (SH/ LD) input. The ’LV165A devices feature a clock-inhibit function and a complemented serial output, Q H.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the devices when they are powered down.

The SN74LV165A device is a parallel-load, 8-bit shift registers designed for 2 V to 5.5 V VCC operation.

When the device is clocked, data is shifted toward the serial output QH. Parallel-in access to each stage is provided by eight individual direct data inputs that are enabled by a low level at the shift/load (SH/ LD) input. The ’LV165A devices feature a clock-inhibit function and a complemented serial output, Q H.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the devices when they are powered down.
filter Buscar otro/a Registros de desplazamiento
Descargar Ver vídeo con transcripción Video

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 2
Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74LV165A Parallel-Load 8-Bit Shift Registers datasheet (Rev. R) PDF | HTML 16 mar 2023
Application note Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 15 dic 2022

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un empaquetado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin conductores de 14 a 24 pine

14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74LV165A IBIS Model (Rev. B)

SCEM132B.ZIP (45 KB) - IBIS Model
Descargar
Diseños de referencia

TIDA-01509 — Diseño de referencia de detección de cables rotos mediante interruptor óptico

This reference design shows a compact implementation of 16 isolated digital input channels using TI's ISO121x devices. The design is split into two groups of eight channels each. A broken wire detection can be executed using only one additional optical switch for each channel or two optical (...)
Design guide: PDF
Esquema: PDF
Diseños de referencia

TIDA-01508 — Diseño de referencia de módulo de entrada digital aislado de 16 canales y menor a 1 W

This reference design shows a compact implementation of 16 isolated digital input channels using TI's ISO121x devices. The design works without an isolated supply and supports up to 100-kHz input signals (200-kbit) per channel. All 16 channels consume less than 1-W input power combined, which (...)
Design guide: PDF
Esquema: PDF
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
SOP (NS) 16 Ultra Librarian
SSOP (DB) 16 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian
TVSOP (DGV) 16 Ultra Librarian
VQFN (RGY) 16 Ultra Librarian
WQFN (BQB) 16 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

Ver todos los temas del foro en inglés

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos