TPS7H3301-SP
- 5962R14228(1):
- Radiation hardness assurance (RHA) qualified to total ionizing dose (TID) 100 krad(Si)
- Single event latch-up (SEL), single event gate rupture (SEGR), single event burnout (SEB) immune to LET = 70 MeV-cm2/mg(2)
- Single event transient (SET), single event functional interrupt (SEFI), and single event upset (SEU) characterized to 70 MeV-cm2/mg(2)
- Supports DDR, DDR2, DDR3, DDR3L, and DDR4 termination applications
- Input voltage: supports a 2.5-V and 3.3-V rail(3)
- Separate low-voltage input (VLDOIN) down to 0.9 V for improved power efficiency(3)
- 3-A sink and source termination regulator includes droop compensation
- Enable input and power-good output for power supply sequencing
- VTT termination regulator
- Output voltage range: 0.5 to 1.75 V
- 3-A sink and source current
- Integrated precision voltage divider network with sense input
- Remote sensing (VTTSNS)
- VTTREF buffered reference
-
49% to 51% accuracy with respect to VDDQSNS (±3 mA)
- ±10-mA sink and source current
-
- Undervoltage lockout (UVLO) and overcurrent limit (OCL) functionality integrated
The TPS7H3301-SP is a TID and SEE radiation-hardened double data rate (DDR) 3-A termination regulator with built-in VTTREF buffer. The regulator is specifically designed to provide a complete, compact, low-noise solution for space DDR termination applications such as single board computers, solid state recorders, and payload processing.
The TPS7H3301-SP supports DDR VTT termination applications using DDR, DDR2, DDR3, DDR4. The fast transient response of the TPS7H3301-SP VTT regulator allows for a very stable supply during read/write conditions. During transients, the fast tracking feature of the VTTREF supply minimizes any voltage offset between VTT/Vo and VTTREF. To enable simple power sequencing, both an enable input and a power-good output (PGOOD) have been integrated into the TPS7H3301-SP. The PGOOD output is open-drain so it can be tied to multiple open-drain outputs to monitor when all supplies have come into regulation. The enable signal can also be used to discharge VTT/Vo during suspend to RAM (S3) power down mode.
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技術資料
設計および開発
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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CFP (HKR) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
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