THVD9491-SEP
- Meets or exceeds the requirements of the TIA/EIA-485A and TIA/EIA-422B standards
- Total ionizing dose (TID) characterized up to 30krad (Si)
- Total ionizing dose radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30krad (Si)
- Single-event effects (SEE) characterized
- Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43MeV⋅cm2 /mg at 125°C
- Space enhanced plastic (Space EP)
- Controlled baseline
- One assembly and test site
- One fabrication site
- Gold bond wire
- NiPdAu lead finish
- Military temp range (-55°C to 125°C)
- Extended product life cycle
- Product traceability
- Meets the NASA ASTM E595 outgassing specification
- 3V to 5.5V supply voltage
- 1.65V to 5.5V Supply for data and enable signals
- SLR Pin Selectable Data Rates:
- 20Mbps and 50Mbps
- Bus I/O protection
- ±70V DC bus fault
- ±16kV HBM ESD
- ±8kV IEC 61000-4-2 contact discharge
- ±4kV IEC 61000-4-4 fast transient burst
- Symmetric common mode range: ±12V
- Enhanced receiver hysteresis for noise immunity
- Glitch-free power-up or down for hot plug-in capability
- Open, short, and idle bus failsafe
- 1/8 unit load (up to 256 bus nodes)
- Leaded 14-pin SOIC package
THVD9491-SEP is a space enhanced, ±70V fault-protected full-duplex RS-422/RS-485 transceiver using a 1.65V to 5.5V logic supply for data and enable logic signals, and a 3V to 5.5V bus side supply. The device has a slew rate select feature that enables the use at two maximum speeds based on the SLR pin setting.
The device features integrated IEC ESD protection, eliminating the need for external system-level protection components. The ±12V input common-mode range makes reliable data communication over longer cable run lengths and/or in the presence of large ground loop voltages. Enhanced 250mV receiver hysteresis provides high noise rejection. In addition, the receiver fail-safe feature makes sure of a logic high when the inputs are open or shorted together.
THVD9491-SEP device is available in a standard 14-pin SOIC package.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | THVD9491-SEP Radiation Tolerant 3V to 5.5V RS-485 Transceiver with Flexible I/O Supply and IEC ESD Protection datasheet | PDF | HTML | 2024/01/09 |
설계 및 개발
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SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.