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UCC2895-EP

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EP(Enhanced Product) Bicmos 고급 위상 변이 PWM 컨트롤러

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UCC2895-EP

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제품 상세 정보

Vin (max) (V) 16.5 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Control mode Current Topology Phase-shifted full bridge Rating HiRel Enhanced Product Features Adjustable switching frequency, Current limiting, Error amplifier, Multi-topology, Soft start, Soft switching, Synchronization pin Duty cycle (max) (%) 100
Vin (max) (V) 16.5 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Control mode Current Topology Phase-shifted full bridge Rating HiRel Enhanced Product Features Adjustable switching frequency, Current limiting, Error amplifier, Multi-topology, Soft start, Soft switching, Synchronization pin Duty cycle (max) (%) 100
SOIC (DW) 20 131.84 mm² 12.8 x 10.3
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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet UCC2895-EP BiCMOS Advanced Phase-Shift PWM Controller datasheet (Rev. G) PDF | HTML 2017/09/20
* VID UCC2895-EP VID V6206614 2016/06/21
* Radiation & reliability report UCC2895MDWREP Reliability Reports 2011/11/11
Application note UCC2895 Layout and Grounding Recommendations 2009/04/09
EVM User's guide UCC3895EVM-001 Configuring The UCC3895 For Direct Control Driven Synchronous Re (Rev. B) 2008/12/02
Application note Current Doubler Rectifier Offers Ripple Current Cancellation 2004/09/21
Application note Synchronous Rectifiers of a Current Doubler 2003/02/27
Application note UCC3895 CD Output Asymmetric Duty Cycle Operation 2002/08/21
Application note A Power Management Solution for Efficient, Multiple Output Applications 2001/10/04
Application note A Comparison Between the BiCMOS UCC3895 Phase Shift Controller and the UC3875 2001/02/22
Application note DN-63 The Current-Doubler Rectifier: An Alternative Rectification Technique 2001/01/12

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOIC (DW) 20 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

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포럼 주제 모두 보기(영문)

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