DLP5534-Q1
Dispositivo de microespejo digital (DMD) DLP® de 0.55 pulgadas y 405 nm para automoción
DLP5534-Q1
- Qualified for automotive applications
- –40°C to 105°C operating temperature range for DMD array
- Supports 405-nm illumination sources
- The DLP5534-Q1 automotive chipset includes:
- DLP5534-Q1 DMD
- DLPC230-Q1 DMD controller
- TPS99000-Q1 system management and illumination controller
- 0.55-inch diagonal micromirror array
- 7.6-µm micromirror pitch
- ±12° micromirror tilt angle (relative to flat state)
- Bottom illumination for optimal efficiency and optical engine size
- Supports 1152 × 576 input resolution
- Compatible with LED or laser illumination
- 600-MHz sub-LVDS DMD interface for low power and emission
- 10-kHz DMD refresh rate over temperature extremes
- Built-in self test of DMD memory cells
The DLP5534-Q1 automotive DMD, combined with the DLPC230-Q1 DMD controller and TPS99000-Q1 system management and illumination controller, provides the capability to achieve a high performance transparent window display projector. The chipset can be coupled with 405-nm illumination sources (e.g. LEDs or lasers) in an optical projection system to project onto windows embedded with emissive phosphor films. When these transparent emissive films are excited with 405-nm light from a DLP5534-Q1 projector, the window becomes a display emitting light in the visible spectrum. The DLP5534-Q1 has more than 3 times the optical throughput of the preceding DLP3034-Q1 automotive DMD enabling brighter and larger displays. In addition, this chipset enables high power optical systems with a wide dynamic range and fast switching speeds that do not vary with temperature.
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Documentación técnica
Tipo | Título | Fecha | ||
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* | Data sheet | DLP5534-Q1 0.55-Inch 1.3-Megapixel 405-nm DMD for Automotive Display datasheet (Rev. A) | PDF | HTML | 22 nov 2019 |
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Technical article | How semiconductor technologies are changing automotive lighting roadmaps | PDF | HTML | 24 oct 2019 | |
Technical article | Creating vehicle-to-pedestrian communication using transparent window displays | PDF | HTML | 01 ago 2019 | |
Application note | DLP® Series-450 DMD and System Mounting Concepts | 18 jun 2010 |
Diseño y desarrollo
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DLP5534Q1EVM — Módulo de evaluación electrónica DLP5534-Q1
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DLP5534PROJQ1EVM — Módulo de evaluación de proyector de 405 nm DLP5534-Q1
DMD-DIFFRACTION-EFFICIENCY-CALCULATOR — Calculator helps model DMD diffraction patterns and diffraction efficiency
Productos y hardware compatibles
Productos
Productos para matrices ≥ 0,47 pulg
Productos Pico para matrices ≥ 0,47 pulg
Productos para UV (< 400 nm)
Visible products (420 to 700 nm)
Productos de espectroscopía y redes ópticas
Productos para iluminación exterior y proyección
Near-UV products (400 to 420 nm)
Productos para visualización
Productos para infrarrojo cercano (> 700 nm)
Circuitos integrados multicanal (PMIC)
Desarrollo de hardware
Placa de evaluación
Kit de desarrollo
Módulo óptico
DLPR072 — Series 450A DMD Mounting and Electrical Interconnect Information
Productos y hardware compatibles
Productos
Productos para iluminación exterior y proyección
Productos para visualización
DLP-OPTICAL-DESIGN — DLP-OPTICAL-DESIGN-GUIDELINES
Productos y hardware compatibles
Productos
Near-UV products (400 to 420 nm)
Productos para matrices ≥ 0,47 pulg
Productos Pico para matrices ≥ 0,47 pulg
Productos para UV (< 400 nm)
Visible products (420 to 700 nm)
Productos de espectroscopía y redes ópticas
Productos para iluminación exterior y proyección
Productos para visualización
Productos para infrarrojo cercano (> 700 nm)
Circuitos integrados multicanal (PMIC)
Desarrollo de hardware
Placa de evaluación
Kit de desarrollo
Módulo óptico
Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
---|---|---|
DLP-S450 (FYK) | 149 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
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