LM5101
- Drives both a high side and low side N-Channel MOSFET
- Independent high and low driver logic inputs (TTL for LM5101 or CMOS for LM5100)
- Bootstrap supply voltage range up to 118V DC
- Fast propagation times (25 ns typical)
- Drives 1000 pF load with 15 ns rise and fall times
- Excellent propagation delay matching (3 ns typical)
- Supply rail under-voltage lockouts
- Low power consumption
- Pin compatible with HIP2100/HIP2101
The LM5100/LM5101 High Voltage Gate Drivers are designed to drive both the high side and the low side N-Channel MOSFETs in a synchronous buck or a half bridge configuration. The floating high-side driver is capable of operating with supply voltages up to 100V. The outputs are independently controlled with CMOS input thresholds (LM5100) or TTL input thresholds (LM5101). An integrated high voltage diode is provided to charge the high side gate drive bootstrap capacitor. A robust level shifter operates at high speed while consuming low power and providing clean level transitions from the control logic to the high side gate driver. Under-voltage lockout is provided on both the low side and the high side power rails. This device is available in the standard SOIC-8 pin and the LLP-10 pin packages.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | LM5100/LM5101 High Voltage High Side and Low Side Gate Driver データシート (Rev. C) | 2005年 3月 16日 | |||
その他の技術資料 | Fundamentals of MOSFET and IGBT Gate Driver Circuits (Replaces SLUP169) (Rev. A) | 2018年 10月 29日 | ||||
セレクション・ガイド | 電源 IC セレクション・ガイド 2018 (Rev. R 翻訳版) | 英語版 (Rev.R) | 2018年 9月 13日 | |||
EVM ユーザー ガイド (英語) | AN-1299 LM5041 Evaluation Board (Rev. A) | 2013年 5月 6日 | ||||
EVM ユーザー ガイド (英語) | AN-1923 Current Sense Demo Board (SOIC) User's Guide (Rev. A) | 2013年 4月 26日 |
設計および開発
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PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
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- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。