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The SCANSTA112 extends the IEEE Std. 1149.1 test bus into a multidrop test bus environment. The advantage of a multidrop approach over a single serial scan chain is improved test throughput and the ability to remove a board from the system and retain test access to the remaining modules. Each SCANSTA112 supports up to 7 local IEEE1149.1 scan chains which can be accessed individually or combined serially.
Addressing is accomplished by loading the instruction register with a value matching that of the Slot inputs. Backplane and inter-board testing can easily be accomplished by parking the local TAP Controllers in one of the stable TAP Controller states via a Park instruction. The 32-bit TCK counter enables built in self test operations to be performed on one port while other scan chains are simultaneously tested.
The STA112 has a unique feature in that the backplane port and the LSP0 port are bidirectional. They can be configured to alternatively act as the master or slave port so an alternate test master can take control of the entire scan chain network from the LSP0 port while the backplane port becomes a slave.
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | SCANSTA112 7-Port Multidrop IEEE 1149.1 (JTAG) Multiplexer データシート (Rev. I) | 2013年 4月 12日 | |||
| アプリケーション・ノート | AN-1259 SCANSTA112 Designer's Reference (Rev. H) | 2013年 4月 26日 | ||||
| アプリケーション・ノート | AN-1312 SCANSTA111/SCANSTA112 Scan Bridge Timing (Rev. B) | 2013年 4月 26日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Simplified Program of Xilinx Devices Using a SCANSTA111/112 JTAG Scan Chain Mux (Rev. C) | 2013年 4月 26日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Simplified Programming of Altera FPGAs Using CSANSTA111/112 JTAG Scan Chain Mux (Rev. D) | 2013年 4月 26日 | ||||
| その他の技術資料 | SCANSTA112 7-port Multidrop IEEE 1149.1 (JTAG) Multiplexer Evaluation Kit Docume | 2012年 2月 21日 | ||||
| アプリケーション・ノート | SCANSTA112 Quick Reference Guide | 2010年 1月 7日 | ||||
| アプリケーション・ノート | JTAG Advanced Capabilities and System Design | 2009年 3月 19日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Partition IEEE 1149.1 SCAN Chains for Manageability! | 2003年 3月 6日 |
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TINA は DesignSoft (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| NFBGA (NZD) | 100 | Ultra Librarian |
| QFP (NEZ) | 100 | Ultra Librarian |
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。