TPS1200-Q1
- 車載アプリケーション向けに AEC-Q100 認定済み
- デバイス温度グレード 1:動作時周囲温度範囲:-40℃~+125℃
- 機能安全対応
- 3.5V~40V の入力範囲 (絶対最大定格 45V)
- 最低 -40V までの逆入力保護
- 内蔵 11V チャージ ポンプ
- 低い静止電流:43µA (動作時)
- 低シャットダウン電流 (EN/UVLO = Low):1.5µA
- 強力なゲート ドライバ (2A のソースとシンク)
- 外付けの Rsense または可変遅延 (TMR) 付き MOSFET VDS センシングを使用した可変短絡保護 (ISCP)
- ハイサイドまたはローサイドの電流検出構成 (CS_SEL)
- 短絡フォルト時のフォルト表示 (FLT)、入力低電圧および短絡コンパレータ診断 (SCP_TEST)
- ゲート駆動 UVLO のフォルト表示 (FLT_GD)
- 可変低電圧誤動作防止 (UVLO) および過電圧保護 (OV)
TPS12000-Q1 は、保護および診断機能を備えた、45V、低 IQ、スマート ハイサイド ドライバです。本デバイスは、動作電圧範囲が 3.5V~40V と広いため、12V のシステム設計に適しています。このデバイスは、最低 -40V の負の電源電圧に耐えられ、負荷を保護できます。
大電流システム設計において並列 MOSFET を使用して電力スイッチングを可能にする強力な (2A) ゲート ドライブを備えています。
このデバイスは、可変短絡保護機能を備えています。自動リトライおよびラッチオフ フォルト動作は設定可能です。電流検出は、CS+ および CS– ピンを使用して、外付けの検出抵抗、または MOSFET VDS センシングのいずれかを使用して実行できます。CS_SEL ピン入力を使用して、ハイサイドまたはローサイドの電流検出抵抗構成が可能です。このデバイスは、SCP_TEST 入力の外部制御を使用した、内蔵の短絡コンパレータを診断する機能も備えています。
動作時の静止電流が 43µA (代表値) と低いため、常時オンのシステム設計が可能です。EN/UVLO が Low で、静止電流が 1.5µA (代表値) まで低減します。
TPS12000-Q1 は、19 ピンの VSSOP パッケージで供給されます。
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | データシート | TPS1200-Q1 短絡保護および診断機能搭載、45V、車載用、低 IQ、スマート ハイサイド ドライバ データシート | PDF | HTML | 英語版 | PDF | HTML | 2022年 5月 27日 |
Analog Design Journal | 為汽車區域式配電系統的車外電容負載供電 | PDF | HTML | 2024年 9月 16日 | |||
Analog Design Journal | 오토모티브 영역 기반 전력 분배 시스템의 오프보드 정전식 부하에 전원 공급 | PDF | HTML | 2024年 9月 16日 | |||
Analog Design Journal | 車載用ゾーン ベース パワー ディストリビュ ーション システムにおけるオフボード容量 性負荷の駆動 | PDF | HTML | 英語版 | PDF | HTML | 2024年 9月 13日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
TPS4800Q1EVM — TPS4800-Q1 evaluation module for smart high-side driver
TPS1200-Q1-CALC — TPS1200-Q1 design calculator
サポート対象の製品とハードウェア
製品
ハイサイド スイッチ コントローラ
ハードウェア開発
評価ボード
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
VSSOP (DGX) | 19 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。