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SN54SC3T98-SEP

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Radiation-tolerant, three-channel configurable inverted multiple-function gate

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SN54SC3T98-SEP

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Produktdetails

Technology family SCxT Number of channels 3 Vout (min) (V) 1.2 Vout (max) (V) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Voltage translation Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family SCxT Number of channels 3 Vout (min) (V) 1.2 Vout (max) (V) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Voltage translation Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23626-01XE
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad (Si)
    • Total ionizing dose radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad (Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • Single-supply translating gates at 5/3.3/2.5/1.8/1.2 V V CC
    • TTL compatible inputs:
      • Up translation:
        • 1.8-V – Inputs from 1.2 V
        • 2.5-V – Inputs from 1.8 V
        • 3.3-V – Inputs from 1.8 V, 2.5 V
        • 5.0-V – Inputs from 2.5 V, 3.3 V
      • Down translation:

        • 1.2-V – Inputs from 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V, 5.0 V

        • 1.8-V – Inputs from 2.5 V, 3.3 V, 5.0 V
        • 2.5-V – Inputs from 3.3 V, 5.0 V
        • 3.3-V – Inputs from 5.0 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA AT 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
  • Vendor item drawing available, VID V62/23626-01XE
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad (Si)
    • Total ionizing dose radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad (Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • Single-supply translating gates at 5/3.3/2.5/1.8/1.2 V V CC
    • TTL compatible inputs:
      • Up translation:
        • 1.8-V – Inputs from 1.2 V
        • 2.5-V – Inputs from 1.8 V
        • 3.3-V – Inputs from 1.8 V, 2.5 V
        • 5.0-V – Inputs from 2.5 V, 3.3 V
      • Down translation:

        • 1.2-V – Inputs from 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V, 5.0 V

        • 1.8-V – Inputs from 2.5 V, 3.3 V, 5.0 V
        • 2.5-V – Inputs from 3.3 V, 5.0 V
        • 3.3-V – Inputs from 5.0 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA AT 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification

The SN54SC3T98-SEP device features configurable multiple functions with extended voltage operation to allow for level translation.. The output state is determined by eight patterns of 3-bit input. The user can choose the logic functions MUX, AND, OR, NAND, NOR, inverter, and noninverter. The output level is referenced to the supply voltage (V CC) and supports 1.2-V, 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example 1.2 V input to 1.8 V output or 1.8 V input to 3.3 V output). Additionally, the 5-V tolerant input pins enable down translation (for example 3.3 V to 2.5 V output).

The SN54SC3T98-SEP device features configurable multiple functions with extended voltage operation to allow for level translation.. The output state is determined by eight patterns of 3-bit input. The user can choose the logic functions MUX, AND, OR, NAND, NOR, inverter, and noninverter. The output level is referenced to the supply voltage (V CC) and supports 1.2-V, 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example 1.2 V input to 1.8 V output or 1.8 V input to 3.3 V output). Additionally, the 5-V tolerant input pins enable down translation (for example 3.3 V to 2.5 V output).
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Technische Dokumentation

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Alle anzeigen 5
Typ Titel Datum
* Data sheet SN54SC3T98-SEPRadiation Tolerant, Configurable Multiple-Function Gate datasheet PDF | HTML 15 Nov 2023
* Radiation & reliability report SN54SC3T98-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report PDF | HTML 12 Dez 2023
* Radiation & reliability report SN54SC4T125-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 05 Dez 2023
* Radiation & reliability report SN54SC3T98-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 09 Nov 2023
Application brief TI Space Enhanced Plastic Logic Overview and Applications in Low-Earth Orbit Satellite Platforms PDF | HTML 10 Sep 2024

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

14-24-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14-polige bis 24-polige D-, DB-, DGV-, DW-, DYY-, NS-

Das 14-24-LOGIC-EVM-Evaluierungsmodul (EVM) ist für die Unterstützung aller Logikgeräte konzipiert, die sich in einem 14-Pin- bis 24-Pin-D-, DW-, DB-, NS-, PW-, DYY- oder DGV-Gehäuse befinden.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Nicht verfügbar auf TI.com
Evaluierungsplatine

14-24-NL-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14- bis 24-polige bleifreie Gehäuse

14-24-NL-LOGIC-EVM ist ein flexibles Evaluierungsmodul (EVM), das alle Logik- oder Übersetzungsbausteine mit einem 14- bis 24-poligen BQA-, BQB-, RGY-, RSV-, RJW- oder RHL-Gehäuse unterstützt.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Nicht verfügbar auf TI.com
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:
  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

Support und Schulungen

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Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support. ​​​​​​​​​​​​​​

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