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CD4078B-MIL

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Puerta NOR/OR de 8 entradas CMOS

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CD4078B-MIL

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Detalles del producto

Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 1 Inputs per channel 8 IOL (max) (mA) 1.5 IOH (max) (mA) -1.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 1 Inputs per channel 8 IOL (max) (mA) 1.5 IOH (max) (mA) -1.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67
  • Medium-Speed Operation:
    tPHL, tPLH = 75 ns (typ.) at VDD = 10 V
  • Buffered inputs and output
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 28 V over full package-temperature range:
    100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (over full package-temperature range):
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
  • Medium-Speed Operation:
    tPHL, tPLH = 75 ns (typ.) at VDD = 10 V
  • Buffered inputs and output
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 28 V over full package-temperature range:
    100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (over full package-temperature range):
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"

CD4078B NOR/OR Gate provides the system designer with direct implementation of the positive-logic 8-input NOR and OR functions and supplements the existing family of CMOS gates.

The CD4078B types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-lead thin shink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4078B NOR/OR Gate provides the system designer with direct implementation of the positive-logic 8-input NOR and OR functions and supplements the existing family of CMOS gates.

The CD4078B types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-lead thin shink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet CD4078B TYPES datasheet (Rev. C) 21 ago 2003
* SMD CD4078B-MIL SMD 7704402CA 21 jun 2016
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 14 nov 2003
Application note Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 03 dic 2001

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
CDIP (J) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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