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CD54HCT20

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Puertas NAND de grado militar de 2 canales, 4 entradas, 4,5 V a 5,5 V

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CD54HCT20

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Detalles del producto

Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 2 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 2 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
  • LSTTL input logic compatible
    • VIL(max) = 0.8 V, VIH(min) = 2 V
  • CMOS input logic compatible
    • II ≤ 1 µA at VOL, VOH
  • Buffered inputs
  • 4.5 V to 5.5 V operation
  • Wide operating temperature range: -55°C to +125°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs
  • LSTTL input logic compatible
    • VIL(max) = 0.8 V, VIH(min) = 2 V
  • CMOS input logic compatible
    • II ≤ 1 µA at VOL, VOH
  • Buffered inputs
  • 4.5 V to 5.5 V operation
  • Wide operating temperature range: -55°C to +125°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs

This device contains two independent 4-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function Y =  A ● B ● C ● D in positive logic.

This device contains two independent 4-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function Y =  A ● B ● C ● D in positive logic.
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Tipo Título Fecha
* Data sheet CD54HCT20, CD74HCT20 High-Speed CMOS Logic Dual 4-Input NAND Gate datasheet 05 mar 2020

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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