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CD74HCT30

ACTIVO

Puerta NAND simple de 8 entradas, 4.5 V a 5.5 V con entradas CMOS compatibles con TTL

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CD74HCT30

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Detalles del producto

Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 8 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 25 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 8 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 25 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • LSTTL input logic compatible
    • VIL(max) = 0.8 V, VIH(min) = 2 V
  • CMOS input logic compatible
    • II ≤ 1 µA at VOL, VOH
  • Buffered inputs
  • 4.5 V to 5.5 V operation
  • Wide operating temperature range: -55°C to +125°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs
  • LSTTL input logic compatible
    • VIL(max) = 0.8 V, VIH(min) = 2 V
  • CMOS input logic compatible
    • II ≤ 1 µA at VOL, VOH
  • Buffered inputs
  • 4.5 V to 5.5 V operation
  • Wide operating temperature range: -55°C to +125°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs

This device contains one independent 8-input NAND gate. Each gate performs the Boolean function Y =  A ● B ● C ● D ● E ● F ● G ● H in positive logic.

This device contains one independent 8-input NAND gate. Each gate performs the Boolean function Y =  A ● B ● C ● D ● E ● F ● G ● H in positive logic.
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet CD54HCT30, CD74HCT30 High Speed CMOS Logic 8-Input NAND Gate datasheet 05 mar 2020

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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