Inicio Lógica y traducción de voltaje Compuertas lógicas Compuertas AND
Inicio
Lógica y traducción de voltaje
Compuertas lógicas
Compuertas AND

SN54HC08-DIE

ACTIVO

SN54HC08-DIE, puertas AND positivas cuádruples de 2 entradas

Haga su pedido ahora
Hoja de datos

SN54HC08-DIE

ACTIVO
Hoja de datos Haga su pedido ahora

Detalles del producto

Technology family HC IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Rating Space Operating temperature range (°C) 25 to 25
Technology family HC IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Rating Space Operating temperature range (°C) 25 to 25
DIESALE (TD) — See data sheet
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 8 ns
  • Low Input Current
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 8 ns
  • Low Input Current

The SN54HC08-DIE device contains four independent 2-input AND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

The SN54HC08-DIE device contains four independent 2-input AND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.
filter Buscar otro/a Compuertas AND
Descargar

Productos similares que pueden interesarle

open-in-new Comparar alternativas
Misma funcionalidad con diferente configuración de pines que el dispositivo comparado
SN74LV4T08-EP ACTIVO Puerta AND mejorada de 4 canales y 2 entradas con conmutador de nivel integrado Voltage range (1.65V to 5.5V), voltage translation capable

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 1
Tipo Título Fecha
* Data sheet Rad-Tolerant Space Grade Die, Quadruple 2-Input Positive-AND Gates, SN54HC08-DIE datasheet 05 jun 2013

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

Ver todos los temas del foro en inglés

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​