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SN74AUC02

ACTIVO

Puertas NOR de alta velocidad, de 4 canales, 2 entradas, de 0.8 V a 2.7 V

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SN74AUC02

ACTIVO
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Detalles del producto

Technology family AUC Number of channels 4 Supply voltage (min) (V) 0.8 Supply voltage (max) (V) 2.7 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 9 IOH (max) (mA) -9 Output type Push-Pull Input type Standard CMOS Features Over-voltage tolerant Inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 250 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family AUC Number of channels 4 Supply voltage (min) (V) 0.8 Supply voltage (max) (V) 2.7 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 9 IOH (max) (mA) -9 Output type Push-Pull Input type Standard CMOS Features Over-voltage tolerant Inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 250 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
VQFN (RGY) 14 12.25 mm² 3.5 x 3.5
  • Optimized for 1.8-V Operation and Is 3.6-V I/O Tolerant to Support Mixed-Mode Signal Operation
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Sub-1-V Operable
  • Max tpd of 2.2 ns at 1.8 V
  • Low Power Consumption, 10-µA Max ICC
  • ±8-mA Output Drive at 1.8 V
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    – 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    – 200-V Machine Model (A115-A)
    – 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Optimized for 1.8-V Operation and Is 3.6-V I/O Tolerant to Support Mixed-Mode Signal Operation
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Sub-1-V Operable
  • Max tpd of 2.2 ns at 1.8 V
  • Low Power Consumption, 10-µA Max ICC
  • ±8-mA Output Drive at 1.8 V
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    – 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    – 200-V Machine Model (A115-A)
    – 1000-V Charged-Device Model (C101)

This quadruple 2-input positive-NOR gate is operational at 0.8-V to 2.7-V VCC, but is designed specifically for 1.65-V to 1.95-V VCC operation.

The SN74AUC02 device performs the Boolean function Y = (A + B)\ or Y = A\ × B\ in positive logic.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

This quadruple 2-input positive-NOR gate is operational at 0.8-V to 2.7-V VCC, but is designed specifically for 1.65-V to 1.95-V VCC operation.

The SN74AUC02 device performs the Boolean function Y = (A + B)\ or Y = A\ × B\ in positive logic.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
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Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin conductores de 14 a 24 pine

14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74AUC02 Behavioral SPICE Model

SCEM742.ZIP (7 KB) - PSpice Model
Descargar
Modelo de simulación

SN74AUC02 IBIS Model

SCEM384.ZIP (54 KB) - IBIS Model
Descargar
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
VQFN (RGY) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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