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LOG300

ACTIVO

Detector logarítmico de 40 MHz con amplificador de bajo ruido integrado

Detalles del producto

Offset voltage (input amplifiers) (max) (mV) 2000 Vs (±) (min) (V) 3 Vs (±) (max) (V) 5 Iq (max) (mA) 5 Dynamic range (typ) (dB) 97 Reference type Ext Auxiliary op amps 0 Full-scale output voltage (min) (±V) 0 Full-scale output voltage (max) (±V) 5.85 Conformity error (initial 5 decades) (max) (%) 1 Conformity error (initial 5 decades) (typ. over temp) (%/°C) 1 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
Offset voltage (input amplifiers) (max) (mV) 2000 Vs (±) (min) (V) 3 Vs (±) (max) (V) 5 Iq (max) (mA) 5 Dynamic range (typ) (dB) 97 Reference type Ext Auxiliary op amps 0 Full-scale output voltage (min) (±V) 0 Full-scale output voltage (max) (±V) 5.85 Conformity error (initial 5 decades) (max) (%) 1 Conformity error (initial 5 decades) (typ. over temp) (%/°C) 1 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 VQFN (RGT) 16 9 mm² 3 x 3
  • Input range:
    • LNA + log detector: 7µVP to 200mVP
    • Log detector: 20µVP to 1.6VP
  • Adjustable output to input slope and response time.
  • Dynamic range: 98dB with log conformance error (LCE) = ±1dB
  • Signal detection up to 40MHz; even higher with reduced LCE
  • Input frequency detection, zero cross detect
  • Supply: 3V to 5.25V
  • Input range:
    • LNA + log detector: 7µVP to 200mVP
    • Log detector: 20µVP to 1.6VP
  • Adjustable output to input slope and response time.
  • Dynamic range: 98dB with log conformance error (LCE) = ±1dB
  • Signal detection up to 40MHz; even higher with reduced LCE
  • Input frequency detection, zero cross detect
  • Supply: 3V to 5.25V

The LOG300 is an integrated analog front end (AFE) consisting of low-noise amplifier (LNA) and a Log Detector block. This device supports an input frequency range of up-to 40MHz and a typical dynamic range of 98dB. The LOG300 is intended for use in applications that require a wide dynamic range of voltage and signal measurement. The Log Detector block of LOG300 supports both single-ended and differential inputs. The low input noise of the integrated LNA, allows measurement of signals as low as 7µVP. The transient output response can be adjusted by tuning the capacitor connected at the Log_Out pin. The integrated frequency detect feature of LOG300 enables users to extract input signal frequency and zero-crossing information.

The LOG300 is available in a 16-pin SOIC and 16-pin VQFN package. The LOG300 is operational from a 3V to 5.25V supply and over the full ambient temperature range of –40°C to +125°C.

The LOG300 is an integrated analog front end (AFE) consisting of low-noise amplifier (LNA) and a Log Detector block. This device supports an input frequency range of up-to 40MHz and a typical dynamic range of 98dB. The LOG300 is intended for use in applications that require a wide dynamic range of voltage and signal measurement. The Log Detector block of LOG300 supports both single-ended and differential inputs. The low input noise of the integrated LNA, allows measurement of signals as low as 7µVP. The transient output response can be adjusted by tuning the capacitor connected at the Log_Out pin. The integrated frequency detect feature of LOG300 enables users to extract input signal frequency and zero-crossing information.

The LOG300 is available in a 16-pin SOIC and 16-pin VQFN package. The LOG300 is operational from a 3V to 5.25V supply and over the full ambient temperature range of –40°C to +125°C.

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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet LOG300 40MHz, 98dB Logarithmic Detector With Integrated Low-Noise Amplifier datasheet (Rev. B) PDF | HTML 10 dic 2024
Application note Ultrasonic Sensing Using LOG Detector Amplifier PDF | HTML 01 oct 2024
Certificate LOG300DEVM EU Declaration of Conformity (DoC) 24 sep 2024

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

LOG300DEVM — Módulo de evaluación LOG300D

El módulo de evaluación (EVM) LOG300D es el amplificador LOG300 en el encapsulado SOIC de 16 pines. El EVM está diseñado para mostrar rápida y fácilmente la funcionalidad y versatilidad del amplificador. El módulo de evaluación (EVM) está listo para conectarse a la alimentación, la fuente de señal (...)

Guía del usuario: PDF | HTML
Placa de evaluación

LOG300RGTEVM — Módulo de evaluación LOG300 en paquete VQFR RGT de 16 pines

El módulo de evaluación LOG300 está diseñado para el detector logarítmico LOG300 con amplificador de bajo ruido integrado en el paquete VQFR de 16 pines. El módulo de evaluación está diseñado para mostrar rápida y fácilmente la funcionalidad y versatilidad del dispositivo. El módulo de evaluación (...)

Guía del usuario: PDF | HTML
Modelo de simulación

LOG300 TINA-TI Model

SLOM524.ZIP (34 KB) - TINA-TI Spice Model
Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

PSpice® for TI is a design and simulation environment that helps evaluate functionality of analog circuits. This full-featured, design and simulation suite uses an analog analysis engine from Cadence®. Available at no cost, PSpice for TI includes one of the largest model libraries in the (...)
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TINA-TI — Programa de simulación analógica basado en SPICE

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
Guía del usuario: PDF
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
VQFN (RGT) 16 Ultra Librarian

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

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