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TPS7H2140-SEP

활성

방사능 내성 4.5V~32V, 입력 1.35A 160mΩ 쿼드 채널 eFuse

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TPS7H2140-SEP

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제품 상세 정보

FET Internal Ron (typ) (mΩ) 160 Vin (min) (V) 4.5 Vin (max) (V) 32 Current limit (min) (A) 0.25 Current limit (max) (A) 7 Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Soft start Fixed Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Rating Space Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125 Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062
FET Internal Ron (typ) (mΩ) 160 Vin (min) (V) 4.5 Vin (max) (V) 32 Current limit (min) (A) 0.25 Current limit (max) (A) 7 Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Soft start Fixed Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Rating Space Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125 Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062
HTSSOP (PWP) 28 62.08 mm² 9.7 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.
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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet TPS7H2140-SEP Radiation-Tolerant 32-V, 160-mΩ Quad-Channel eFuse datasheet (Rev. A) PDF | HTML 2023/08/11
* VID TPS7H2140-SEP VID V62-23610 2024/05/01
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) PDF | HTML 2023/11/06
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 2023/10/10
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 2023/10/09
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2023/10/04
Selection guide TI Space Products (Rev. J) 2024/02/12
EVM User's guide TPS7H2140EVM, TPS7H2140-SEP Evaluation Module User's Guide (Rev. A) PDF | HTML 2023/08/18
Certificate TPS7H2140EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2023/07/24
Application note Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 2022/09/15
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 2019/05/21

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

TPS7H2140EVM — 방사능 내성 플라스틱 쿼드 채널 eFuse용 TPS7H2140-SEP 평가 모듈

TPS7H2140-SEP 평가 모듈은 쿼드 채널 eFuse의 작동을 보여줍니다. 보드는 병렬 출력 채널 테스트를 위해 구성되며, 출력 채널을 분할하거나 장치의 다른 기능을 사용자 지정할 수 있습니다.

사용 설명서: PDF | HTML
TI.com에서 구매 불가
시뮬레이션 모델

TPS7H2140-SEP PSpice Transient Model

SLVME15.ZIP (38 KB) - PSpice Model
다운로드
계산 툴

TVS-RECOMMENDATION-CALC — TVS diode recommendation tool

This tool suggests suitable TVS for given system parameters and abs max voltage rating of the device.
지원되는 제품 및 하드웨어

지원되는 제품 및 하드웨어

이 설계 리소스는 이러한 범주의 제품 대부분을 지원합니다.

제품 세부 정보 페이지에서 지원을 확인하십시오.
다운로드
시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
요청
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
HTSSOP (PWP) 28 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

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