LMK6D
- 以下の範囲内の固定周波数をサポートする高性能差動およびシングルエンド出力発振器
- LMK6D:1MHz~400MHz、LVDS 出力
- LMK6H:1MHz~400MHz、HCSL 出力
- LMK6P:1MHz~400MHz、LVPECL 出力
- LMK6C:1MHz~200MHz、LVCMOS 出力
- 超低ジッタ:
- LMK6D/LMK6H/LMK6P:156.25MHz での RMS ジッタ 100fs (標準値) / 125fs (最大値) (12kHz~20MHz)
- LMK6C:100MHz での RMS ジッタ 350fs (標準値) / 500fs (最大値) (12kHz~20MHz)
- LMK6H:PCIe Gen 1~Gen 6 準拠
- 10 年の経年劣化やその他のすべての要因を含め、合計周波数安定性 ±25ppm
- 業界標準の最小 DLE および DLF パッケージ
- 産業用拡張温度範囲をサポート:
- LMK6P/LMK6D/LMK6H:–40℃~85℃
- LMK6C:–40℃~105℃
- 内蔵 LDO により、堅牢な電源ノイズ耐性を実現:
- 500kHz リップル時に -72dBc PSRR
- スタートアップ時間:5ms 未満
- 標準周波数:
- LVCMOS (MHz):1、2.04、4、8.192、10、12、12.288、16、19.2、20、23.5、24、24.57、25、25.6、26、26.21、27、28.12、32.768、33.333、40、48、49.15、50、54、60、65.53、66、74.25、76.8、80、100、108、125、133.330、156.25
- 差動 (MHz):25、26、32.5、50、51.84、54、65、76.8、80、100、108、122.88、125、133.330、148.35、148.5、150、155.52、156.25、161.1328125、200、312.5、400
- デバイスは、1MHz~400MHz の任意の周波数をサポート可能。周波数とサンプルが必要な場合は、 テキサス・インスツルメンツの担当者にお問い合わせください
テキサス・インスツルメンツのバルク弾性波 (BAW) は、超低ジッタ クロック回路を使用して高精度 BAW 共振器をパッケージに直接統合できるマイクロ共振器テクノロジーです。BAW は、シリコン ベースのその他の製造プロセスと同様に TI の工場で全面的に設計および製造されています。
LMK6x デバイスは、共振器源として BAW を採用した超低ジッタ固定周波数発振器です。本デバイスは、特定の動作モードごとに、周波数、電圧、出力タイプ、機能ピンを含めて工場出荷時にプログラムされています。高性能フラクショナル分周器を備えた LMK6x は、規定された範囲内の任意の周波数を生成することが可能です。1 つのデバイス ファミリで、あらゆる周波数のニーズに対応することが可能となります。
このデバイスの高性能クロック供給、機械的安定性、フレキシビリティ、小型パッケージの選択肢は、通信、データおよびエンタープライズ ネットワーク、産業用アプリケーションで使用される高速 SERDES のリファレンスおよびコア クロック向けに設計されています。
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シミュレーション・ツール
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
VSON (DLE) | 6 | Ultra Librarian |
VSON (DLF) | 6 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
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