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Transceptores RS-485 y RS-422

SN65C1168E-SEP

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Receptores y controladores de diferencial dobles RS-422 resistentes a la radiación en plástico me

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Detalles del producto

Number of receivers 2 Number of transmitters 2 Duplex Full Supply voltage (nom) (V) 5 Signaling rate (max) (MBits) 10 IEC 61000-4-2 contact (±V) 8000 Fault protection (V) -10 to 15 Common-mode range (V) -7 to 7 Number of nodes 32 Features IEC ESD protection Isolated No Supply current (max) (µA) 17000 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Number of receivers 2 Number of transmitters 2 Duplex Full Supply voltage (nom) (V) 5 Signaling rate (max) (MBits) 10 IEC 61000-4-2 contact (±V) 8000 Fault protection (V) -10 to 15 Common-mode range (V) -7 to 7 Number of nodes 32 Features IEC ESD protection Isolated No Supply current (max) (µA) 17000 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • VID V62/19606
  • Radiation hardened
    • Single event latch-up (SEL) immune to 43 MeV-cm2/mg at 125°C
    • ELDRS-free to 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose (TID) RLAT for every wafer lot up to 20 krad(Si)
  • Space Enhanced Plastic
    • Controlled baseline
    • Gold wire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Available in military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Extended product-change notification
    • Product traceability
    • Enhanced mold compound for low outgassing
  • Meet or exceed standards TIA/EIA-422-B and ITU recommendation V.11
  • Operate from single 5-V power supply
  • ESD protection for RS-422 bus pins
    • ±12-kV human-body model (HBM)
    • ±8-kV IEC 61000-4-2, contact discharge
    • ±8-kV IEC 61000-4-2, air-gap discharge
  • Low-pulse skew
  • Receiver input impedance . . . 17 kΩ (typical)
  • Receiver input sensitivity . . . ±200 mV
  • Receiver common-mode input voltage range of
    –7 V to 7 V
  • Glitch-free power-up/power-down protection
  • VID V62/19606
  • Radiation hardened
    • Single event latch-up (SEL) immune to 43 MeV-cm2/mg at 125°C
    • ELDRS-free to 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose (TID) RLAT for every wafer lot up to 20 krad(Si)
  • Space Enhanced Plastic
    • Controlled baseline
    • Gold wire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Available in military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Extended product-change notification
    • Product traceability
    • Enhanced mold compound for low outgassing
  • Meet or exceed standards TIA/EIA-422-B and ITU recommendation V.11
  • Operate from single 5-V power supply
  • ESD protection for RS-422 bus pins
    • ±12-kV human-body model (HBM)
    • ±8-kV IEC 61000-4-2, contact discharge
    • ±8-kV IEC 61000-4-2, air-gap discharge
  • Low-pulse skew
  • Receiver input impedance . . . 17 kΩ (typical)
  • Receiver input sensitivity . . . ±200 mV
  • Receiver common-mode input voltage range of
    –7 V to 7 V
  • Glitch-free power-up/power-down protection

The SN65C1168E-SEP consists of dual drivers and dual receivers with ±12-kV ESD (HBM) and ±8-kV ESD (IEC61000-4-2 Air-Gap Discharge and Contact Discharge) for RS-422 bus pins. The device meets the requirements of TIA/EIA-422-B and ITU recommendation V.11. Some parameters do not meet all TIA/EIA-422-B and ITU recommendation V.11 requirements after 20-krad(Si) TID exposure.

The SN65C1168E-SEP drivers have individual active-high enables.

The SN65C1168E-SEP consists of dual drivers and dual receivers with ±12-kV ESD (HBM) and ±8-kV ESD (IEC61000-4-2 Air-Gap Discharge and Contact Discharge) for RS-422 bus pins. The device meets the requirements of TIA/EIA-422-B and ITU recommendation V.11. Some parameters do not meet all TIA/EIA-422-B and ITU recommendation V.11 requirements after 20-krad(Si) TID exposure.

The SN65C1168E-SEP drivers have individual active-high enables.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN65C1168E-SEP Dual Differential Drivers and Receivers With ±12-kV ESD Protection datasheet PDF | HTML 23 jul 2019
* Radiation & reliability report SN65C1168E-SEP Single-Event Latch-Up (SEL) Radiation Report 30 oct 2020
* VID SN65C1168E-SEP VID V6219606 06 ago 2020
* Radiation & reliability report SN65C1168E-SEP Reliability Report 24 jun 2019
* Radiation & reliability report SN65C1168E-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report 02 abr 2019
Selection guide TI Space Products (Rev. J) 12 feb 2024
Technical article How Space Enhanced Products Address Challenges in low Earth orbit Applications (Rev. A) PDF | HTML 18 dic 2023
Application note Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 15 sep 2022
Application brief Space-Grade, 30-krad, Isolated RS-422 Serial Transceiver Circuit PDF | HTML 01 jun 2021

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

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Modelo de simulación

SN65C1168E TINA-TI Reference Design

SLLM346.TSC (369 KB) - TINA-TI Reference Design
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Modelo de simulación

SN65C1168E TINA-TI Spice Model

SLLM347.ZIP (4 KB) - TINA-TI Spice Model
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Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

PSpice® for TI is a design and simulation environment that helps evaluate functionality of analog circuits. This full-featured, design and simulation suite uses an analog analysis engine from Cadence®. Available at no cost, PSpice for TI includes one of the largest model libraries in the (...)
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TINA-TI — Programa de simulación analógica basado en SPICE

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

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