UCC21530-Q1
Automotive, 4A, 6A, 5.7kVRMS, isolated dual-channel gate driver with EN and DT pins for IGBT/SiC
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Pin por pin con la misma funcionalidad que el dispositivo comparado
UCC21530-Q1
- AEC-Q100 qualified with:
- Device temperature grade 1
- Functional Safety Quality-Managed
- Universal: dual low-side, dual high-side or half-bridge driver
- Wide body SOIC-14 (DWK) package
- 3.3mm spacing between driver channels
- Switching parameters:
- 33ns typical propagation delay
- 20ns minimum pulse width
- 6ns maximum pulse-width distortion
- Common-mode transient immunity (CMTI) greater than 125V/ns
- 4A peak source, 6A peak sink output
- TTL and CMOS compatible inputs
- 3V to 18V input VCCI range
- Up to 25V VDD output drive supply
- 8V,12V and 17V VDD UVLO options
- Programmable overlap and dead time
- Junction temperature range –40 to +150°C
The UCC21530-Q1 is an isolated dual-channel gate driver with 4A source and 6A sink peak current. It is designed to drive IGBTs, Si MOSFETs, and SiC MOSFETs up to 5MHz.
The input side is isolated from the two output drivers by a 5.7kVRMS reinforced isolation barrier, with a minimum of 125V/ns common-mode transient immunity (CMTI). Internal functional isolation between the two secondary-side drivers allows a working voltage of up to 1850V.
This device can be configured as two low-side drivers, two high-side drivers, or a half-bridge driver with programmable dead time (DT). The EN pin pulled low shuts down both outputs simultaneously and allows for normal operation when left open or pulled high. As a fail-safe measure, primary-side logic failures force both outputs low.
The device accepts VDD supply voltages up to 25V. A wide input VCCI range from 3V to 18V makes the driver suitable for interfacing with both analog and digital controllers. All the supply voltage pins have under voltage lock-out (UVLO) protection.
Solicitar más información
El manual de seguridad y el informe de la tasa de fallas en el tiempo (FIT) de seguridad de UCC21530-Q1 están disponibles. Solicitar ahora
Documentación técnica
Tipo | Título | Fecha | ||
---|---|---|---|---|
* | Data sheet | UCC21530-Q1 4A, 6A, 5.7kVRMS Isolated Dual-Channel Gate Driver with 3.3mm Channel-to-Channel Spacing datasheet (Rev. F) | PDF | HTML | 17 sep 2024 |
Certificate | VDE Certificate for Reinforced Isolation for DIN EN IEC 60747-17 (Rev. S) | 29 feb 2024 | ||
Application note | Impact of Narrow Pulse Widths in Gate Driver Circuits (Rev. A) | PDF | HTML | 25 ene 2024 | |
White paper | Addressing High-Volt Design Challenges w/ Reliable and Affordable Isolation Tech (Rev. C) | PDF | HTML | 26 sep 2023 | |
Certificate | UCC21540 CQC Certificate of Product Certification | 17 ago 2023 | ||
Certificate | UCC215xx CQC Certificate of Product Certification | 17 ago 2023 | ||
Certificate | UL Certification E181974 Vol 4. Sec 7 (Rev. C) | 02 dic 2022 | ||
Application brief | The Use and Benefits of Ferrite Beads in Gate Drive Circuits | PDF | HTML | 16 dic 2021 | |
Certificate | CSA Product Certificate (Rev. A) | 15 ago 2019 | ||
Technical article | Searching for the newest innovations in power? Find them at APEC | PDF | HTML | 09 feb 2019 |
Diseño y desarrollo
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Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
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SOIC (DWK) | 14 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
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