UCC27200
Controlador de puerta de medio puente de 3 A y 120 V con UVLO de 8 V y entradas CMOS
UCC27200
- Drives two N-channel MOSFETs in high-side and low-side configuration
- Negative voltage handling on HS (–5V)
- Maximum boot voltage of 120V
- Maximum VDD voltage of 20V
- On-chip 0.65V VF, 0.65Ω RD bootstrap diode
- 22ns propagation delay times
- 3A sink and 3A source output currents
- 8ns rise and 7ns fall time with 1000pF load
- 1ns delay matching
- Undervoltage lockout for high-side and low-side driver
- Specified from –40°C to 150°C
The UCC2720x family of high-frequency N-channel MOSFET drivers include a 120V bootstrap diode and high-side and low-side drivers with independent inputs for maximum control flexibility. This allows for N-channel MOSFET control in half-bridge, full-bridge, two-switch forward, and active clamp forward converters. The low-side and the high-side gate drivers are independently controlled and matched to 1ns between the turnon and turnoff of each other.
An on-chip bootstrap diode eliminates the external discrete diodes. Undervoltage lockout is provided for both the high-side and the low-side drivers forcing the outputs low if the drive voltage is below the specified threshold.
Two versions of the UCC2720x are offered. The UCC27200 has high noise immune CMOS input thresholds while the UCC27201 has TTL compatible thresholds.
Documentación técnica
Diseño y desarrollo
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UCC27200 and UCC27200A PSpice Transient Model
UCC27200 and UCC27200A TINA-TI Transient Reference Design
UCC27200 and UCC27200A TINA-TI Transient Spice Model
UCC27200 and UCC27200A Unencrypted PSpice Transient Model
PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI
Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
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HSOIC (DDA) | 8 | Ultra Librarian |
SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
VSON (DRM) | 8 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.
Soporte y capacitación
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