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TPS7H2140-SEP

ACTIVO

Fusible de cuatro canales de 4.5 V a 32 V, entrada de 1.35 A y 160 mΩ, con tolerancia a la radiac

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TPS7H2140-SEP

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Detalles del producto

FET Internal Ron (typ) (mΩ) 160 Vin (min) (V) 4.5 Vin (max) (V) 32 Current limit (min) (A) 0.25 Current limit (max) (A) 7 Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Soft start Fixed Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Rating Space Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125 Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062
FET Internal Ron (typ) (mΩ) 160 Vin (min) (V) 4.5 Vin (max) (V) 32 Current limit (min) (A) 0.25 Current limit (max) (A) 7 Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Soft start Fixed Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Rating Space Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125 Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062
HTSSOP (PWP) 28 62.08 mm² 9.7 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet TPS7H2140-SEP Radiation-Tolerant 32-V, 160-mΩ Quad-Channel eFuse datasheet (Rev. A) PDF | HTML 11 ago 2023
* VID TPS7H2140-SEP VID V62-23610 01 may 2024
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) PDF | HTML 06 nov 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 10 oct 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 09 oct 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 04 oct 2023
Selection guide TI Space Products (Rev. J) 12 feb 2024
EVM User's guide TPS7H2140EVM, TPS7H2140-SEP Evaluation Module User's Guide (Rev. A) PDF | HTML 18 ago 2023
Certificate TPS7H2140EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 24 jul 2023
Application note Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 15 sep 2022
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 21 may 2019

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

TPS7H2140EVM — Módulo de evaluación TPS7H2140-SEP para fusible electrónico de cuatro canales de plástico con tolera

El módulo de evaluación TPS7H2140-SEP demuestra el funcionamiento de un fusible electrónico de cuatro canales. La placa está configurada para probar canales de salida paralelos y se puede personalizar para dividir los canales de salida y/o personalizar las otras funciones del dispositivo.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

TPS7H2140-SEP PSpice Transient Model

SLVME15.ZIP (38 KB) - PSpice Model
Descargar
Herramienta de cálculo

TVS-RECOMMENDATION-CALC — TVS diode recommendation tool

This tool suggests suitable TVS for given system parameters and abs max voltage rating of the device.
Productos y hardware compatibles

Productos y hardware compatibles

Este recurso de diseño es compatible con la mayoría de los productos de estas categorías.

Revise la página de detalles del producto para verificar la compatibilidad.
Descargar
Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

PSpice® for TI is a design and simulation environment that helps evaluate functionality of analog circuits. This full-featured, design and simulation suite uses an analog analysis engine from Cadence®. Available at no cost, PSpice for TI includes one of the largest model libraries in the (...)
Solicitar
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
HTSSOP (PWP) 28 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

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