LMG3410R070

現行

具有整合式驅動器和防護的 600V 70mΩ GaN

產品詳細資料

VDS (max) (V) 600 RDS(on) (mΩ) 70 ID (max) (A) 12 Features Bottom-side cooled, Latched overcurrent protection, Overtemperature protection Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 150
VDS (max) (V) 600 RDS(on) (mΩ) 70 ID (max) (A) 12 Features Bottom-side cooled, Latched overcurrent protection, Overtemperature protection Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 150
VQFN (RWH) 32 64 mm² 8 x 8
  • TI GaN Process Qualified Through Accelerated Reliability In-application Hard-switching Mission Profiles
  • Enables High Density Power Conversion Designs
    • Superior System Performance Over Cascode or Stand-alone GaN FETs
    • Low Inductance 8mm x 8mm QFN Package for Ease of Design, and Layout
    • Adjustable Drive Strength for Switching Performance and EMI Control
    • Digital Fault Status Output Signal
    • Only +12 V Unregulated Supply Needed
  • Integrated Gate Driver
    • Zero Common Source Inductance
    • 20 ns Propagation Delay for MHz Operation
    • Process-tuned Gate Bias Voltage for Reliability
    • 25 to 100V/ns User Adjustable Slew Rate
  • Robust Protection
    • Requires No External Protection Components
    • Over-current Protection with <100ns Response
    • >150V/ns Slew Rate Immunity
    • Transient Overvoltage Immunity
    • Overtemperature Protection
    • UVLO Protection on All Supply Rails
  • Device Options:
    • LMG3410R070: Latched Overcurrent Protection
    • LMG3411R070: Cycle-by-cycle Overcurrent Protection
  • TI GaN Process Qualified Through Accelerated Reliability In-application Hard-switching Mission Profiles
  • Enables High Density Power Conversion Designs
    • Superior System Performance Over Cascode or Stand-alone GaN FETs
    • Low Inductance 8mm x 8mm QFN Package for Ease of Design, and Layout
    • Adjustable Drive Strength for Switching Performance and EMI Control
    • Digital Fault Status Output Signal
    • Only +12 V Unregulated Supply Needed
  • Integrated Gate Driver
    • Zero Common Source Inductance
    • 20 ns Propagation Delay for MHz Operation
    • Process-tuned Gate Bias Voltage for Reliability
    • 25 to 100V/ns User Adjustable Slew Rate
  • Robust Protection
    • Requires No External Protection Components
    • Over-current Protection with <100ns Response
    • >150V/ns Slew Rate Immunity
    • Transient Overvoltage Immunity
    • Overtemperature Protection
    • UVLO Protection on All Supply Rails
  • Device Options:
    • LMG3410R070: Latched Overcurrent Protection
    • LMG3411R070: Cycle-by-cycle Overcurrent Protection

The LMG341xR070 GaN power stage with integrated driver and protection enables designers to achieve new levels of power density and efficiency in power electronics systems. The LMG341x’s inherent advantages over silicon MOSFETs include ultra-low input and output capacitance, zero reverse recovery to reduce switching losses by as much as 80%, and low switch node ringing to reduce EMI. These advantages enable dense and efficient topologies like the totem-pole PFC.

The LMG341xR070 provides a smart alternative to traditional cascode GaN and standalone GaN FETs by integrating a unique set of features to simplify design, maximize reliability and optimize the performance of any power supply. Integrated gate drive enables 100V/ns switching with near zero Vds ringing, <100 ns current limiting self-protects against unintended shoot-through events, Overtemperature shutdown prevents thermal runaway, and system interface signals provide self-monitoring capability.

The LMG341xR070 GaN power stage with integrated driver and protection enables designers to achieve new levels of power density and efficiency in power electronics systems. The LMG341x’s inherent advantages over silicon MOSFETs include ultra-low input and output capacitance, zero reverse recovery to reduce switching losses by as much as 80%, and low switch node ringing to reduce EMI. These advantages enable dense and efficient topologies like the totem-pole PFC.

The LMG341xR070 provides a smart alternative to traditional cascode GaN and standalone GaN FETs by integrating a unique set of features to simplify design, maximize reliability and optimize the performance of any power supply. Integrated gate drive enables 100V/ns switching with near zero Vds ringing, <100 ns current limiting self-protects against unintended shoot-through events, Overtemperature shutdown prevents thermal runaway, and system interface signals provide self-monitoring capability.

下載 觀看有字幕稿的影片 影片

您可能會感興趣的類似產品

open-in-new 比較替代產品
引腳對引腳且具備與所比較裝置相同的功能
LMG3411R070 現行 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600-V 70-mΩ GaN Different overcurrent protection response behavior.

技術文件

star =TI 所選的此產品重要文件
找不到結果。請清除您的搜尋條件,然後再試一次。
檢視所有 38
類型 標題 日期
* Data sheet LMG341xR070 600-V 70-mΩ GaN with Integrated Driver and Protection datasheet (Rev. F) PDF | HTML 2020年 4月 6日
Technical article The benefits of GaN for battery test systems PDF | HTML 2022年 10月 7日
White paper Achieving GaN Products With Lifetime Reliability PDF | HTML 2021年 6月 2日
White paper 為太陽能電網增添儲能功能的四項 重要設計考量 2021年 5月 5日
White paper 結合 TI GaN FETs 與 C2000™ 即時 MCU,實現功率密集與有效率的數位電源系統 2021年 3月 18日
More literature A Generalized Approach to Determine the Switching Lifetime of a GaN FET 2020年 10月 20日
Analog Design Journal Wide-bandgap semiconductors: Performance and benefits of GaN versus SiC 2020年 9月 22日
Application note Thermal Considerations for Designing a GaN Power Stage (Rev. B) 2020年 8月 4日
Technical article Designing highly efficient, powerful and fast EV charging stations PDF | HTML 2019年 8月 6日
Technical article No avalanche? No problem! GaN FETs are surge robust PDF | HTML 2019年 4月 3日
More literature GaN FET Reliability to Power-line Surges Under Use-conditions 2019年 3月 25日
Application note Third quadrant operation of GaN 2019年 2月 25日
Technical article Searching for the newest innovations in power? Find them at APEC PDF | HTML 2019年 2月 9日
Technical article Gallium nitride: supporting applications from watts to kilowatts PDF | HTML 2018年 12月 19日
White paper Direct-drive configuration for GaN devices (Rev. A) 2018年 11月 19日
Application note High Voltage Half Bridge Design Guide for LMG3410 Smart GaN FET (Rev. A) 2018年 11月 10日
Application brief Overcurrent Protection in High-Density GaN Power Designs 2018年 10月 19日
Technical article GaN reliability standards reach milestone PDF | HTML 2017年 9月 18日
Technical article Using Digital Power MCUs for Intelligent EV Battery Charging PDF | HTML 2017年 7月 3日
EVM User's guide Using the LMG3410-HB-EVM Half-Bridge and LMG34XX-BB-EVM Breakout Board EVM (Rev. A) 2017年 5月 3日
Technical article The power to innovate industrial design PDF | HTML 2017年 3月 27日
Technical article The power to do even more with GaN PDF | HTML 2017年 3月 25日
White paper Enabling high-voltage power delivery through the power process chain 2017年 3月 23日
Technical article Power Tips: Improve power supply reliability with high voltage GaN devices PDF | HTML 2016年 11月 3日
Technical article It’s hip to be square PDF | HTML 2016年 10月 20日
Technical article Is integrated GaN changing the conventional wisdom? PDF | HTML 2016年 10月 7日
Technical article Don't forget the gate driver: it’s the muscle PDF | HTML 2016年 9月 20日
Technical article Power Tips: How GaN devices boost resonant converter efficiency PDF | HTML 2016年 8月 25日
Technical article Advantages of wide band gap materials in power electronics – part 2 PDF | HTML 2016年 6月 21日
Technical article From blue light to green power PDF | HTML 2016年 4月 26日
More literature Product-level Reliability of GaN Devices 2016年 4月 26日
White paper Application-Relevant Qualification of Emerging Semiconductor Power Devices, GaN 2016年 3月 31日
Technical article Let’s GaN together, reliably PDF | HTML 2016年 3月 22日
White paper Optimizing GaN performance with an integrated driver 2016年 2月 24日
White paper Redefining power management through high-voltage innovation 2015年 11月 12日
White paper GaN FET-Based CCM Totem-Pole Bridgeless PFC 2015年 10月 2日
White paper A comprehensive methodology to qualify the reliability of GaN products 2015年 3月 2日
White paper Advancing Power Supply Solutions Through the Promise of GaN 2015年 2月 24日

設計與開發

如需其他條款或必要資源,請按一下下方的任何標題以檢視詳細頁面 (如有)。

開發板

LMG34XX-BB-EVM — 適用於 LMG341x 系列的 LMG34xx GaN 系統級評估主機板

LMG34XX-BB-EVM 是一款易於使用的分接板,可當作同步降壓轉換器配置任何 LMG341x 半橋電路板,例如 LMG3410-HB-EVM。透過提供功率級、偏壓電源和邏輯電路,此 EVM 可快速測量 GaN 裝置切換。此 EVM 能夠提供高達 8 A 的輸出電流,運用適當的溫度管理 (強制空氣、低頻率運作等),確保不超過最高運作溫度。EVM 屬於開迴路電路板,不適合執行瞬態量測。

只需要單脈衝寬度調變輸入,具有互補脈衝寬度調變訊號,和板上產生的對應失效時間。使用具有短接地彈簧的示波器探針,提供探針點來測量主要邏輯和功率級波形。

使用指南: PDF
TI.com 無法提供
子卡

LMG3410-HB-EVM — LMG3410R070 600V 70mΩ GaN 半橋子板

The LMG34XX-BB-EVM is an easy to use breakout board to configure any LMG34XX half bridge board, such as the LMG3410-HB-EVM, as a synchronous buck converter.  By providing a power stage, bias power and logic circuitry this EVM allows for quick measurements of the GaN device switching. (...)
使用指南: PDF
TI.com 無法提供
模擬型號

LMG3410 TINA-TI Spice Model (Rev. B)

SNOM608B.TSC (158 KB) - TINA-TI Spice Model
模擬型號

LMG3410R070 Unencrypted PSpice Model (Rev. D)

SNOM593D.ZIP (57 KB) - PSpice Model
CAD/CAE 符號

LMG3410 Daughter Card EVM Design Files (Rev. A)

SNOR009A.ZIP (10151 KB)
CAD/CAE 符號

LMG34xx Mother Board EVM Design Files

SNOR010.ZIP (4044 KB)
計算工具

LMGXX-GAN-LLC-CALC GaN LLC resonant converter device loss calculator

Device Loss Calculator can be used to evaluate different devices for different topologies of the LLC Resonant Converter
支援產品和硬體

支援產品和硬體

產品
氮化鎵 (GaN) 功率級
LMG2100R026 100V 2.6mΩ 半橋氮化鎵 (GaN) 功率級 LMG2100R044 具有整合式驅動器和防護功能的 100-V 4.4-mΩ 半橋 GaN FET LMG2610 具有整合式驅動器、保護和電流感測功能且適用於 ACF 的 650-V 170/248-mΩ GaN 半橋 LMG2640 具有整合式驅動器、防護和電流感測的 650V 105mΩ GaN 半橋 LMG2650 具有整合式驅動器、防護和電流感測的 650V 95mΩ GaN 半橋 LMG3410R050 具有整合式驅動器和保護功能的 600-V 50-mΩ GaN LMG3410R070 具有整合式驅動器和防護的 600V 70mΩ GaN LMG3410R150 具有整合驅動器和過電流保護功能的 600-V 150-mΩ GaN LMG3411R050 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600V 50mΩ GaN LMG3411R070 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600-V 70-mΩ GaN LMG3411R150 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600-V 150-mΩ GaN LMG3422R030 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 600-V 30-mΩ GaN FET LMG3422R050 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 600-V 50-mΩ GaN FET LMG3425R030 具有整合式驅動器、保護、溫度報告和理想二極體模式的 600-V 30-mΩ GaN FET LMG3425R050 具有整合式驅動器、保護、溫度報告和理想二極體模式的 600-V 50-mΩ GaN FET LMG3426R030 具有整合式驅動器、防護和零電壓偵測的 600V 30mΩ GaN FET LMG3426R050 具有整合式驅動器、防護和零電壓偵測的 600V 50mΩ GaN FET LMG3427R030 具有整合式驅動器、防護和零電流偵測的 600V 30mΩ GaN FET LMG3522R030 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 650-V 30-mΩ GaN FET LMG3522R030-Q1 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的車用 650-V、30-mΩ GaN FET LMG3522R050 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 650-V 50-mΩ GaN FET LMG3526R030 具有整合式驅動器、防護和零電壓偵測的 650-V 30-mΩ GaN FET LMG3526R050 具有整合式驅動器、防護和零電壓偵測報告的 650-V 50-mΩ GaN FET LMG5200 80V GaN 半橋功率級
計算工具

SNOR029 GaN CCM Boost PFC Power Loss Calculation Excel Sheet

支援產品和硬體

支援產品和硬體

產品
氮化鎵 (GaN) 功率級
LMG3410R050 具有整合式驅動器和保護功能的 600-V 50-mΩ GaN LMG3410R070 具有整合式驅動器和防護的 600V 70mΩ GaN LMG3410R150 具有整合驅動器和過電流保護功能的 600-V 150-mΩ GaN LMG3411R050 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600V 50mΩ GaN LMG3411R070 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600-V 70-mΩ GaN LMG3411R150 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600-V 150-mΩ GaN LMG3422R030 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 600-V 30-mΩ GaN FET LMG3522R030 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 650-V 30-mΩ GaN FET LMG3522R030-Q1 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的車用 650-V、30-mΩ GaN FET LMG3526R030 具有整合式驅動器、防護和零電壓偵測的 650-V 30-mΩ GaN FET
計算工具

SNOR030 GaN CCM Totem Pole PFC Power Loss Calculation Excel Sheet

支援產品和硬體

支援產品和硬體

產品
氮化鎵 (GaN) 功率級
LMG3410R050 具有整合式驅動器和保護功能的 600-V 50-mΩ GaN LMG3410R070 具有整合式驅動器和防護的 600V 70mΩ GaN LMG3410R150 具有整合驅動器和過電流保護功能的 600-V 150-mΩ GaN LMG3411R050 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600V 50mΩ GaN LMG3411R070 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600-V 70-mΩ GaN LMG3411R150 具有整合驅動器和逐週期過電流保護功能的 600-V 150-mΩ GaN LMG3422R030 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 600-V 30-mΩ GaN FET LMG3422R050 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 600-V 50-mΩ GaN FET LMG3522R030 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的 650-V 30-mΩ GaN FET LMG3522R030-Q1 具有整合式驅動器、防護和溫度報告功能的車用 650-V、30-mΩ GaN FET LMG3526R030 具有整合式驅動器、防護和零電壓偵測的 650-V 30-mΩ GaN FET
參考設計

TIDA-010062 — 1-kW, 80+ titanium, GaN CCM totem pole bridgeless PFC and half-bridge LLC with LFU reference design

This reference design is a digitally controlled, compact 1-kW AC/DC power supply design for server power supply unit (PSU) and telecom rectifier applications. This highly efficient design supports two main power stages, including a front-end continuous conduction mode (CCM) totem-pole bridgeless (...)
Design guide: PDF
電路圖: PDF
參考設計

PMP20873 — 效率高達 99% 且基於 GaN 的 1kW CCM 圖騰柱功率因數校正 (PFC) 轉換器參考設計

Continuous-Conduction-Mode (CCM) Totem-pole power factor correction (PFC) is a simple but efficient power converter.  To achieve 99% efficiency, there are many design details that need to be taken into account.  The PMP20873 reference design uses TI’s 600VGaN  power stage, (...)
Test report: PDF
電路圖: PDF
參考設計

TIDM-1007 — 高效率 GaN CCM 圖騰柱免橋接功率因數校正 (PFC) 參考設計

Interleaved Continuous Conduction Mode (CCM) Totem Pole (TTPL) Bridgeless Power Factor Correction (PFC) is an attractive power topology with use of high band-gap GaN devices, because of high efficiency and reduced size of the power supply. This design illustrates a method to control this power (...)
Design guide: PDF
電路圖: PDF
參考設計

TIDM-02008 — 使用 C2000™ MCU 的雙向高密度 GaN CCM 圖騰柱 PFC

This reference design is a 3.-kW bidirectional interleaved continuous conduction mode (CCM) totem-pole (TTPL) bridgeless power factor correction (PFC) power stage using a C2000™ real-time controller and LMG3410R070 gallium nitride (GaN) with integrated driver and protection. (...)
Design guide: PDF
電路圖: PDF
參考設計

PMP41006 — 由 C2000™ 和 GaN 實現且具 CCM 圖騰柱 PFC 和電流模式 LLC 的 1-kW 參考設計

此參考設計將展示混合磁滯控制 (HHC) 方法,這是一種採用 C2000™ F28004x 微控制器之半橋 LLC 階段上的電流模式控制方式。硬體採用 TIDA-010062,這是 1-kW、80-Plus 鈦金屬、GaN CCM 圖騰柱免橋接 PFC 與半橋式 LLC 參考設計。針對混合磁滯控制新增獨立的感應卡,可在共振電容器上重新產生電壓。相較於單迴路電壓模式控制方法 (VMC)、HHC LLC 階段顯示較佳的暫態回應與簡單控制迴路設計。
Test report: PDF
參考設計

PMP41043 — 由 C2000 和 GaN 實現且具 CCM 圖騰柱 PFC 和電流模式 LLC 的 1.6-kW 參考設計

此參考設計將展示混合磁滯控制 (HHC) 方法,是配備 C2000 F28004x 微控制器的半橋 LLC 階段上之電流模式控制方式。硬體以 TIDA-010062 為基礎,為 1-kW、80 Plus 鈦金屬、GaN CCM 圖騰柱免橋接 PFC 與半橋式 LLC 參考設計。針對混合磁滯控制新增獨立感應卡,可在共振電容器上重新產生電壓。

相較於單迴路電壓模式控制 (VMC) 方法,HHC LLC 階段展示較佳的暫態回應與簡單控制迴路設計。

Test report: PDF
參考設計

PMP21309 — 具有 HV GaN FET 的 24-V/500-W 共振轉換器參考設計

This reference design is a high-frequency resonant converter reference design. The output voltage is regulated to 24 V with input voltage ranges from 380 V to 400 V using a resonant tank with 500 kHz resonant frequency. A 97.9% peak efficiency is achieved with this design using TI’s (...)
Test report: PDF
電路圖: PDF
參考設計

PMP21842 — 具有 HV GaN FET 的 12V/500W 諧振轉換器參考設計

此高頻諧振轉換器參考設計使用諧振頻率為 500kHz 的諧振腔,可在 380V 至 400V 的輸入電壓範圍內調節 12V 輸出。此設計使用我們的高電壓 GaN 裝置以及 UCD3138A 和 UCD7138 來最佳化失效時間和同步整流器 (SR) 導通,從而實現了 96.0% 的峰值效率 (包括偏壓電源)。
Test report: PDF
電路圖: PDF
封裝 針腳 CAD 符號、佔位空間與 3D 模型
VQFN (RWH) 32 Ultra Librarian

訂購與品質

內含資訊:
  • RoHS
  • REACH
  • 產品標記
  • 鉛塗層/球物料
  • MSL 等級/回焊峰值
  • MTBF/FIT 估算值
  • 材料內容
  • 認證摘要
  • 進行中持續性的可靠性監測
內含資訊:
  • 晶圓廠位置
  • 組裝地點

支援與培訓

內含 TI 工程師技術支援的 TI E2E™ 論壇

內容係由 TI 和社群貢獻者依「現狀」提供,且不構成 TI 規範。檢視使用條款

若有關於品質、封裝或訂購 TI 產品的問題,請參閱 TI 支援。​​​​​​​​​​​​​​

影片