Inicio Gestión de la energía Interruptores de potencia Fusibles electrónicos y controladores de intercambio en caliente
Inicio
Gestión de la energía
Interruptores de potencia
Fusibles electrónicos y controladores de intercambio en caliente
NUEVO

TPS7H2201-SEP

ACTIVO

Fusible electrónico (eFuse) de 6 A y entrada de 1.5 V a 7 V con tolerancia a la radiación

Haga su pedido ahora
Hoja de datos

TPS7H2201-SEP

ACTIVO
Hoja de datos Haga su pedido ahora

Detalles del producto

FET Internal Ron (typ) (mΩ) 20 Vin (min) (V) 1.5 Vin (max) (V) 7 Vabsmax_cont (V) 7.5 Current limit (min) (A) 0.5 Current limit (max) (A) 7.5 Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting, current limiting Fault response Auto-retry Soft start Adjustable Overvoltage response Cut-off Features Current monitoring, Overvoltage protection, Reverse current blocking always, Soft-start, Thermal shutdown Rating Space Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125 Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0058 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.008
FET Internal Ron (typ) (mΩ) 20 Vin (min) (V) 1.5 Vin (max) (V) 7 Vabsmax_cont (V) 7.5 Current limit (min) (A) 0.5 Current limit (max) (A) 7.5 Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting, current limiting Fault response Auto-retry Soft start Adjustable Overvoltage response Cut-off Features Current monitoring, Overvoltage protection, Reverse current blocking always, Soft-start, Thermal shutdown Rating Space Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125 Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0058 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.008
HTSSOP (DAP) 32 89.1 mm² 11 x 8.1
  • Standard micro circuit available, SMD 5962R17220
  • Vendor item drawing available, VID V62/23608
  • Radiation performance:
    • Radiation hardness assurance (RHA) up to TID 100krad(Si)
    • Single event latchup (SEL), single event burnout (SEB), and single event gate rupture (SEGR) immune to LET = 75MeV-cm2/mg
    • SEFI/SET characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
  • Integrated single channel eFuse
  • Input voltage range: 1.5V to 7V
  • Low on-resistance (RON) of :
    • 35mΩ maximum at 25°C and VIN = 5V for CFP and KGD
    • 23mΩ maximum at 25°C and VIN = 5V for HTSSOP
  • 6-A maximum continuous switch current
  • Low control input threshold enables use of 1.2, 1.8, 2.5, and 3.3V logic
  • Configurable rise time (soft start)
  • Reverse current protection
  • Programmable and internal current limiting (fast-trip)
  • Programmable fault timer (current limit and retry modes)
  • Thermal shutdown
  • Ceramic and plastic package with thermal pad
  • Standard micro circuit available, SMD 5962R17220
  • Vendor item drawing available, VID V62/23608
  • Radiation performance:
    • Radiation hardness assurance (RHA) up to TID 100krad(Si)
    • Single event latchup (SEL), single event burnout (SEB), and single event gate rupture (SEGR) immune to LET = 75MeV-cm2/mg
    • SEFI/SET characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
  • Integrated single channel eFuse
  • Input voltage range: 1.5V to 7V
  • Low on-resistance (RON) of :
    • 35mΩ maximum at 25°C and VIN = 5V for CFP and KGD
    • 23mΩ maximum at 25°C and VIN = 5V for HTSSOP
  • 6-A maximum continuous switch current
  • Low control input threshold enables use of 1.2, 1.8, 2.5, and 3.3V logic
  • Configurable rise time (soft start)
  • Reverse current protection
  • Programmable and internal current limiting (fast-trip)
  • Programmable fault timer (current limit and retry modes)
  • Thermal shutdown
  • Ceramic and plastic package with thermal pad

The TPS7H2201 is a single channel eFuse that provides configurable rise time to minimize inrush current and reverse current protection. The device contains a P-channel MOSFET that can operate over an input voltage range of 1.5V to 7V and can support a maximum continuous current of 6A. The switch is controlled by an on and off input (EN), which is capable of interfacing directly with low-voltage control signals.

The TPS7H2201 is available in a ceramic and plastic package with integrated thermal pad allowing for high power dissipation. The device is characterized for operation over the free-air temperature range of –55°C to 125°C.

The TPS7H2201 is a single channel eFuse that provides configurable rise time to minimize inrush current and reverse current protection. The device contains a P-channel MOSFET that can operate over an input voltage range of 1.5V to 7V and can support a maximum continuous current of 6A. The switch is controlled by an on and off input (EN), which is capable of interfacing directly with low-voltage control signals.

The TPS7H2201 is available in a ceramic and plastic package with integrated thermal pad allowing for high power dissipation. The device is characterized for operation over the free-air temperature range of –55°C to 125°C.
filter Buscar otro/a Fusibles electrónicos y controladores de intercambio en caliente
Descargar Ver vídeo con transcripción Video

Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
No se encontraron resultados. Borre su búsqueda y vuelva a intentarlo.
Ver todo 11
Tipo Título Fecha
* Data sheet TPS7H2201-SP and TPS7H2201-SEP Radiation Hardened 1.5V to 7V, 6A eFuse datasheet (Rev. F) PDF | HTML 06 mar 2024
* VID TPS7H2201-SEP VID V62-23608 01 may 2024
* Radiation & reliability report TPS7H2201-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 29 sep 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2201-SEP TID Radiation Report (Rev. A) PDF | HTML 18 sep 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2201-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 29 ago 2023
* Radiation & reliability report Single Event Effects Report of the TPS7H2201-SEP eFuse and Load Switch PDF | HTML 24 ago 2023
Selection guide TI Space Products (Rev. J) 12 feb 2024
EVM User's guide TPS7H2201EVM Evaluation Module User's Guide PDF | HTML 06 jul 2023
Certificate TPS7H2201EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 19 jun 2023
Application note Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 15 sep 2022
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 21 may 2019

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

TPS7H2201EVM — Módulo de evaluación TPS7H2201 para producto de calidad espacial, entrada de 1.5 V a 7 V, 6 A, inter

El TPS7H2201EVM demuestra el funcionamiento de un fusible electrónico único TPS7H2201 (tolerancia a la radiación/plástico reforzado). La placa proporciona espacios que se pueden rellenar con componentes adicionales para permitir el ensayo de configuraciones personalizadas, como fusibles (...)

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

TPS7H2201-SP PSpice Transient Model

SLVMCY9.ZIP (214 KB) - PSpice Model
Descargar
Modelo de simulación

TPS7H2201-SP Unencrypted PSpice Transient Model (Rev. A)

SLVMCY8A.ZIP (4 KB) - PSpice Model
Descargar
Herramienta de cálculo

TVS-RECOMMENDATION-CALC — TVS diode recommendation tool

This tool suggests suitable TVS for given system parameters and abs max voltage rating of the device.
Productos y hardware compatibles

Productos y hardware compatibles

Este recurso de diseño es compatible con la mayoría de los productos de estas categorías.

Revise la página de detalles del producto para verificar la compatibilidad.
Descargar
Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

PSpice® for TI is a design and simulation environment that helps evaluate functionality of analog circuits. This full-featured, design and simulation suite uses an analog analysis engine from Cadence®. Available at no cost, PSpice for TI includes one of the largest model libraries in the (...)
Solicitar
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
HTSSOP (DAP) 32 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

Ver todos los temas del foro en inglés

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos