DAC81416
DAC de salida de alta tensión y 16 canales de 16 bits con referencia interna integrada
DAC81416
- Performance
- Specified monotonic at 16-bit resolution
- INL: ±1 LSB maximum at 16-bit resolution
- TUE: ±0.1% of FSR maximum
- Integrated 2.5-V precision internal reference
- Initial accuracy: ±2.5 mV maximum
- Low drift: 5 ppm/°C typical
- Flexible output configuration
- Output range: ±2.5 V, ±5 V, ±10 V, ±20 V 0 to 5 V, 0 to 10 V, 0 to 20 V or 0 to 40 V
- Differential output mode
- High drive capability: ±25 mA with 1.5 V from supply rails
- Three dedicated A-B toggle pins for dither signal generation
- Analog temperature output
- Sensor gain of –4 mV/°C
- 50-MHz SPI-compatible serial interface
- 4-wire mode, 1.7-V to 5.5-V operation
- Daisy-chain operation
- CRC error check
- Temperature range: –40°C to +125°C
- Small package
- 6 mm × 6 mm, 40-pin VQFN
The DAC81416, DAC71416, and DAC61416 (DACx1416) are a pin-compatible family of 16‑channel, buffered, high-voltage output digital-to-analog converters (DACs) with 16‑bit, 14‑bit, and 12‑bit resolution. The DACx1416 include a low-drift, 2.5‑V internal reference, eliminating the need for an external precision reference in most applications. These devices are specified monotonic and provide high linearity of ±1 LSB INL.
A user-selectable output configuration enables full-scale bipolar output voltages of ±20 V, ±10 V, ±5 V or ±2.5 V, and full-scale unipolar output voltages of 40 V, 20 V, 10 V or 5 V. The full-scale output range for each DAC channel is independently programmable. The integrated DAC output buffers can sink or source up to 25 mA, thus limiting the need for additional operational amplifiers. Each pair of channels can be configured to provide a differential output with offset calibration. The three dedicated A-B toggle pins enable dither signal generation with up to three possible frequencies.
The DACx1416 incorporate a power-on-reset circuit that connects the DAC outputs to ground at power up. The outputs remain in this state until the device registers are properly configured for operation.
Communication with the DACx1416 is performed through a 4-wire serial interface that supports operation from 1.7 V to 5.5 V.
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Misma funcionalidad con diferente configuración de pines que el dispositivo comparado
Documentación técnica
Tipo | Título | Fecha | ||
---|---|---|---|---|
* | Data sheet | DACx1416 16-Channel, 16-Bit, 14-Bit, and 12-Bit High-Voltage Output DACs With Internal Reference datasheet (Rev. B) | PDF | HTML | 10 jun 2021 |
Circuit design | Programmable voltage output with sense connections circuit (Rev. A) | PDF | HTML | 20 sep 2024 | |
Application note | Optimized Power-Supply Circuit Solution for DAC81416 High-Voltage Output | PDF | HTML | 19 sep 2021 | |
EVM User's guide | DAC81416EVM User's Guide (Rev. A) | 06 dic 2018 | ||
Application brief | DACx1416 Delivers Optimized Solution to Mach Zehnder Modulator Biasing | 29 jun 2018 |
Diseño y desarrollo
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DAC81416-08EVM — Módulo de evaluación DAC81416-08
SLAC746 — DACx1416EVM Software
Productos y hardware compatibles
Productos
DAC de precisión (≤ 10 MSPS)
ANALOG-ENGINEER-CALC — Calculadora para ingenieros analógicos
ADC-DAC-TO-VREF-SELECT-DESIGN-TOOL — The ADC-TO-VREF-SELECT tool enables the pairing of TI ADCs, DACs, and series voltage references.
Productos y hardware compatibles
Productos
Referencias de tensión en serie
ADC de precisión
AFE para biosensores
ADC y DAC de precisión integrados
ADC de alta velocidad (≥ 10 MSPS)
DAC de precisión (≤ 10 MSPS)
SBAC228 — Source files for SBAA335
Productos y hardware compatibles
Productos
DAC de precisión (≤ 10 MSPS)
PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI
TINA-TI — Programa de simulación analógica basado en SPICE
Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
---|---|---|
VQFN (RHA) | 40 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
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