ADS8556
ADC de muestreo simultáneo de 630 kSPS de 6 canales
ADS8556
- Family of 16-, 14-, 12-Bit, Pin- and
Software-Compatible ADCs - Six SAR ADCs Grouped in Three Pairs
- Maximum Data Rate Per Channel with Internal
Conversion Clock and Reference:
ADS8556: 630 kSPS (PAR) or 450 kSPS (SER)
ADS8557: 670 kSPS (PAR) or 470 kSPS (SER)
ADS8558: 730 kSPS (PAR) or 500 kSPS (SER) - Maximum Data Rate with External Conversion
Clock and Reference:
800 kSPS (PAR) or 530 kSPS (SER) - Pin-Selectable or Programmable Input Voltage
Ranges: Up to ±12 V - Excellent Signal-to-Noise Performance:
ADS8556: 91.5 dB, ADS8667: 85 dB,
ADS8668: 73.9 dB - Programmable and Buffered Internal Reference:
0.5 V to 2.5 V and 0.5 V to 3.0 V - Comprehensive Power-Down Modes:
- Deep Power-Down (Standby Mode)
- Partial Power-Down
- Auto-Nap Power-Down
- Selectable Parallel or Serial Interface
- Operating Temperature Range: –40°C to 125°C
The ADS855x contains six low-power, 16-, 14-, or 12-bit, successive approximation register (SAR) based analog-to-digital converters (ADCs) with true bipolar inputs. Each channel contains a sample-and-hold circuit that allows simultaneous high-speed multi-channel signal acquisition.
The ADS855x supports data rates of up to 730 kSPS in parallel interface mode or up to 500 kSPS if the serial interface is used. The bus width of the parallel interface can be set to eight or 16 bits. In serial mode, up to three output channels can be activated.
The ADS855x is specified over the full industrial temperature range of 40°C to 125°C and is available in an LQFP-64 package.
Documentación técnica
Tipo | Título | Fecha | ||
---|---|---|---|---|
* | Data sheet | ADS855x 16-, 14-, 12-Bit, Six-Channel, Simultaneous Sampling Analog-to-Digital Converters datasheet (Rev. D) | PDF | HTML | 03 feb 2016 |
Application note | A Numerical Protection Relay Solution (Rev. A) | 26 jul 2018 | ||
White paper | Voltage-reference impact on total harmonic distortion | 01 ago 2016 | ||
E-book | Best of Baker's Best: Precision Data Converters -- SAR ADCs | 21 may 2015 | ||
Application note | Driver Circuit Design Considerations for ADS855x | 27 ago 2012 | ||
Application note | Determining Minimum Acquisition Times for SAR ADCs, part 2 | 17 mar 2011 |
Diseño y desarrollo
Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.
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Productos y hardware compatibles
Productos
Amplificadores operacionales de precisión (Vox < 1 mV)
Amplificadores de propósito general
Amplificadores operacionales para audio
Amplificadores de transimpedancia
Amplificadores operacionales de alta velocidad (GBW ≥ 50 MHz)
Amplificadores operacionales de potencia
Amplificadores de video
Drivers de línea
Amplificadores de transconductancia y drivers láser
Amplificadores totalmente diferenciales
ADC de precisión
AFE para biosensores
ADC de alta velocidad (≥ 10 MSPS)
Receptores
Controladores de pantalla táctil
Amplificadores diferenciales
Amplificadores de instrumentación
Receptores de línea de audio
Amplificadores analógicos de detección de corriente
Monitores de potencia digitales
Amplificadores analógicos de detección de corriente con resistencia de derivación integrada
Monitores de potencia digitales con resistencia de derivación integrada
Servicios de troqueles y obleas
JITTER-SNR-CALC — Jitter and SNR calculator
JITTER-SNR-CALC can be used for calculating theoretical Signal to Noise (SNR) performance of ADCs based on input frequency and clock jitter.
Productos y hardware compatibles
Productos
ADC de alta velocidad (≥ 10 MSPS)
ADC de precisión
PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI
TINA-TI — Programa de simulación analógica basado en SPICE
Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
---|---|---|
LQFP (PM) | 64 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.
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